GB/T6672 薄膜測厚儀 薄膜厚度測量儀

Labthink蘭光CHY-C2 薄膜測厚儀 薄膜厚度測量儀滿足多項國家和標準：ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D645、 ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 DIN 53105、 DIN 53353、 JIS K6250、 JIS K6328、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817 ，適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。

CHY-C2 薄膜測厚儀 薄膜厚度測量儀特　　征
微電腦控制、液晶顯示
菜單式界面、PVC操作面板
接觸式測量
測頭自動升降
手動、自動雙重測量模式
數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印
顯示zui大值、zui小值、平均值和統(tǒng)計偏差
標準接觸面積、測量壓力（非標可選）
標準量塊標定
微型打印機
RS232接口
網(wǎng)絡傳輸接口支持局域網(wǎng)數(shù)據(jù)集中管理與互聯(lián)網(wǎng)信息傳輸
CHY-C2 薄膜測厚儀 薄膜厚度測量儀技術指標
測量范圍：0～2mm（常規(guī)）
　　　　　0～6mm；12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：10次/min（可調(diào)）
測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
　　　　　注：薄膜、紙張任選一種；非標可定制
電　　源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300 mm （L）×275 mm （B）×300 mm （H）
凈　　重：33kg
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以上CHY-C2薄膜測厚儀 薄膜厚度測量儀信息由Labthink濟南蘭光機電技術有限公司發(fā)布，：

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【濟南蘭光機電技術有限公司】介紹
濟南蘭光機電技術有限公司專業(yè)致力于檢測理論研究與實驗室建設，服務于紡織、包裝、印刷、膠粘劑及車用非金屬行業(yè)的品質(zhì)控制事業(yè)，擁有的高分子聚合物阻隔性實驗室，已為世界各地 4000 多家客戶提供多層次專業(yè)化服務及數(shù)萬套檢測設備。憑借專業(yè)精深的研究理念及創(chuàng)新的人才精英團隊， Labthink 蘭光以完備的研究設施、完整的核心技術、完善的解決方案著稱包裝測試行業(yè)。
Labthink蘭光產(chǎn)品如下：透氧儀、透濕儀、薄膜拉力機、頂空分析儀、透氣性測試儀、密封試驗儀、摩擦系數(shù)儀、熱縮試驗儀、熱封試驗儀、落鏢沖擊試驗儀、擺錘沖擊試驗儀、墨層結合牢度試驗機、薄膜測厚儀、持粘性測試儀、紙箱抗壓機、電子剝離試驗機、初粘性測試儀、撕裂度儀等。