穩扎穩打推優勢產品 歐屹科技盛裝出席CIOE中國光博會
【化工儀器網 展會報道】熱意漸退，黃金九月。時隔一年，光電行業緊跟時代發展步伐，行業盛會再度來襲。2024年9月11日，第25屆中國國際光電博覽會(簡稱：CIOE中國光博會)在深圳盛大開幕。本屆展會規模龐大，吸引了全球超過3700家優質光電企業齊聚一堂，產品覆蓋精密光學、攝像頭技術及應用、智能傳感、紅外技術等多個光電領域，全方位展示了光電產業的新成果。
作為一家致力于提供光電、半導體儀器設備的高科技企業，北京歐屹科技有限公司(以下簡稱：歐屹科技)也攜帶眾多明星產品應邀赴會，與業內同行、專業觀眾共同交流行業現狀、探討行業未來。
公司團隊合影
歐屹科技代理、經銷的產品內容廣泛，主要為激光耦合、半導體激光器、皮秒飛秒激光器及加工系統、探測器、光電器件、半導體晶圓加工及檢測、光學檢測設備等，產品得到了眾多高校、科研院所等高水平實驗室的應用。十幾年來，歐屹科技不斷為用戶提供較先進的儀器設備及配套解決方案，贏得用戶廣泛好評。
本屆展會上，歐屹科技攜帶了應力雙折射測量系統、納米壓痕儀、激光+白光共聚焦顯微鏡等重磅產品赴會，憑借先進的產品和專業的講解，吸引眾多參展觀眾前往展位咨詢。
應力雙折射測量系統有三個系列，分別為應力雙折射系統WPA系列、應力雙折射系統PA系列、應力雙折射系統NIR系列。
應力雙折射系統WPA系列
WPA系列是Photonic lattic公司采用自研的光子晶體技術，開發的一款適用性較高的應力雙折射檢測設備，可測量相位差(光程差)高達3500nm，還可以拓展至10000nm，適合注塑成型的透光器件的應力雙折射檢測，優質的測量性能受到各大光學廠和研究機構的青睞。
應力雙折射測量系統
WPA系列通過核心的偏光圖像傳感器，可以快速準確地測量透明材料的應力雙折射，針對不同產品尺寸，均有可匹配的型號可供選擇。該產品還具備點、線、面、3D的分析功能，可在數秒內給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息，且顏色編碼直觀顯示應力雙折射分布，提高測量工作效率。除此之外，WPA系列還擁有多種輸出格式，以便用戶采集數據。
應力雙折射測量系統
應力雙折射系統PA系列
PA系列也是Photonic lattic公司采用自研的光子晶體技術，針對玻璃、SIC晶圓、藍寶石等低應力雙折射的測量系統，通過核心的偏光圖像傳感器，可以快速準確地測量透明材料的應力雙折射，針對不同產品尺寸，均有可匹配的型號可供選擇。
應力雙折射系統PA系列
PA系列也可在數秒內給出被測產品的應力雙折射大小和分布信息，還可一次測量視野范圍內樣品的全部數據；且還具備點、線、面、3D的分析功能以及500萬的高分辨率。PA系列主要用于小應力雙折射產品如玻璃、藍寶石、晶體等。
應力雙折射系統NIR系列
近紅外(NIR)應力雙折射系統，可針對測量紅外材料的應力雙折射信息及內應力分布，分別有PA-300-NIR與WPA-200-NIR，適用于大多數紅外材料測量。
應力雙折射系統NIR系列
PA-300-NIR使用850nm的近紅外波段作為測量波長，同時也擁有500萬的高分辨率，可快速測量雙折射、內應力分布，即使在肉眼中不透射的材料也是如此。適用于通過近紅外波長硫系玻璃產品的測量。
WPA-200-NIR使用三個近紅外波段波長作為測量波長，以測量通過近紅外波長測量的雙折射信息。適用于LiDAR 汽車部件的應力雙折射測量。
除此之外，歐屹科技也為業界同行以及參展觀眾帶來了一款重磅產品——激光+白光共聚焦顯微鏡。
激光+白光共聚焦顯微鏡是日本Lasertec公司推出的Optelics Hybrid混合共焦顯微鏡。該產品將激光和白光源組合在一起，用于多功能高性能共聚顯微鏡；且擁有兩組共焦光學器件與附加器件，包括干涉儀、微分干涉對比觀察和光譜反射膜厚度測量儀。白光共聚焦+激光共聚焦，雙光學系搭載，兼具兩者優勢。
激光白光共聚焦顯微鏡
激光+白光共聚焦顯微鏡集6項功能于一體，以雙共聚焦光學系為基礎，搭載微分干涉觀察，垂直白光干涉測定，相差干涉測定，反射分光膜厚測定等功能，通常多臺設備才能完成的測試，僅需一臺設備即可實現，進一步提高了工作的效率。
一直以來，歐屹科技十分重視客戶的真實需求，秉持“專業、貼心、及時、周到”的服務理念，為客戶提供值得信賴的產品和服務體驗，與合作伙伴攜手，在政策利好的時代背景下創造價值，實現共贏！在未來，相信歐屹科技的產品將得到越來越廣泛的應用。
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