HeLeeX E8 X射線熒光光譜儀
| 參考價 | ￥ 200000 |
| 訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 深圳市禾苗分析儀器有限公司
- 品牌
- 型號 HeLeeX E8
- 產地 廣東省深圳市
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2017/5/16 11:08:08
- 訪問次數 759
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編號 | 名稱 | 技術參數 |
01 | 探測器 | Amptek Si-PIN 分辨率：149eV（進口） |
02 | 高壓電源 | 管壓：0~50kV 管流：0~2000mA 功率：100W（國產） |
03 | 光管 | 功率：100W 冷卻方式：油冷+風冷 靶材：Mo靶（國產） |
04 | 準直器 | Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ2.0mm、Φ5.0mm 可針對樣品，配置準直器 |
05 | 光路系統 | 精密超短光路結構 6種濾光片、6種準直器自由組合（自動切換） |
06 | 控制系統 | 高速多路AD控制電路 |
07 | 供電電源 | AC220V/50Hz |
08 | 功率 | 300W |
09 | 儀器重量 | 35Kg |
10 | 樣品倉大小 | 360mm×330 mm ×50 mm（H） |
11 | 外型尺寸 | 510mm×380mm×365mm（H） （人體工學設計） |
12 | 標準樣品 | 配備進口標準ERM-EC681K 一塊、ERM-EC680K 一塊； |
13 | 校正片 | 配置精致純銀（Ag）校正片一塊； |
Ø 技術特點：
ð 可更換準直/濾光系統，應對各種材質樣品分析，避免結構材料干擾；
ð 全新的濾光片組合可獲得高精度的測試數據；
ð 在非常短的時間內獲得更低的檢出下限；
ð 采用第三方標準樣品制作分析模型，符合計量認證的法規；
ð 可靠的迷宮式X射線防護設計，通過了華南、華東和華北的環境保護檢測機構的嚴格檢測；
ð 開放式分析模型，用戶可自主擴展儀器應用范圍；
ð 全新的軟件算法，精確定量分析元素，*符合IEC制定的3σ的判定標準
ð 測試數據一鍵恢復、一鍵還原。
Ø 性能指標：
編號 | 名稱 | 技術指標 |
01 | 精密度（EC-681K） | σ（Pb）≤5ppm； σ（Hg）≤5ppm； σ（Br）≤7ppm； σ（Cr）≤6ppm； σ（Cd）≤5ppm； |
02 | 準確度（EC-681K） | σ（Pb）≤7ppm； σ（Hg）≤5ppm； σ（Br）≤5ppm； σ（TCr）≤3ppm；σ（Cd）≤4ppm； |
03 | 檢出限 | 對聚合物材料： LOD（Pb）≤5ppm； LOD（Hg）≤5ppm； LOD（Cr）≤5ppm； LOD（TBr）≤5ppm； LOD（Cd）≤5ppm； 對銅基體材料： LOD（Pb）≤20ppm； |
04 | 測量時間 | 240秒（軟件自動調整）； |
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