BM8-II 反應離子刻蝕/沉積等離子處理系統(薄膜沉積、刻蝕、材料改性、鈍化層刻蝕)
參考價 | ¥ 35000 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 極科有限公司
- 品牌
- 型號 BM8-II
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2016/10/2 16:04:22
- 訪問次數 776
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產品介紹:BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統、反應離子刻蝕(RIE)及等離子體增強化學氣相沉積 (PEVCD)系統
用于反應離子刻蝕(RIE)及等離子體增強化學氣相沉積 (PEVCD)的等離子處理系統。
BM8-II是一款定義反應離子刻蝕(RIE)及等離子體增強化學氣相沉積 (PEVCD)等離子處理新概念的等離子處理系統。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統基于模塊化設計制造,采用一款通用的真空處理艙及機柜。等離子處理系統采用平板式電極、反應離子刻蝕(RIE)電極及等離子體增強化學氣相沉積 (PEVCD)電極模塊化設計理念,方便整體系統的組裝及配置。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統帶給用戶方便操作,提供多種等離子處理工藝、方便維護及性價比高的反應離子刻蝕(RIE)/沉積等離子處理系統,比業(yè)內其它反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統更具競爭力。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統-主要性能簡介
等離子工藝處理的研發(fā)需要多功能且可靠的等離子處理系統。為了滿足等離子研究日新月異的要求,用戶選購的系統設備滿足zui大范圍的等離子工藝參數需要,工藝驗證需要極其高的可重復性,必須方便改造用于新的等離子工藝需要。我們相信BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統系列干法工藝等離子系統滿足這些非??量痰囊?。. BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統是一款用于研究,工藝開發(fā)及其小批量生產的等離子系統工具,用于zui大八英寸基片的精確等離子刻蝕及沉積。BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統可以在多片或單片處理模式下操作。
在設計BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統之初,主導指示就是創(chuàng)造一款融合高質量、可靠、重復性及其用于生產系統的工藝控制能力為一體的等離子系統;同時*的降低主機成本、維護成本及占地面積小等要求。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統具有*的機體結構和電極設計,方便安裝在層流模塊中或是超凈間。BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統的建造采用高質量認可的部件、模塊化裝配、多功能真空艙體及其電極設計、結構緊湊、自動化及業(yè)內認可工藝程序使得BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統成為工藝工程師*干法等離子處理設備。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統-主要性能介紹
· 一體式真空艙體構造
· 原位電極間距設計(PEVCD版)
· 可更換工藝氣體噴頭
· 業(yè)內認可的工藝程序
· 高質量業(yè)內認可的主要部件
· 終點探測監(jiān)測(Endpoint detection選配)
· 多種電極配置
· 自動射頻(RF)匹配器
· 下游壓力控制(Downstream pressure control選配)
· 電腦控制,基于Windows編程
· 多款真空泵浦選配:機械泵、機械泵/風機,渦輪增壓泵浦
· 單真空艙及雙真空艙結構
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統-應用
基于系統建造的高質量處理模塊,BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統滿足廣泛的等離子處理工藝條件,無論是復雜的亞微米級反應離子刻蝕 (RIE)還是高質等離子體增強化學氣相沉積(PEVCD)薄膜的沉積。以下是我們,BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統的典型工藝處理應用,基與眾多客戶群的緊密協作,我們開發(fā)出業(yè)內認可的工藝程序,保證系統滿足用戶所需。用于生產制造的系統設備均采用zui高質量的部件,保證,BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統提供zui大可能的正常運行時間、 可靠性、重復性及耐用性。
· 故障分析應用(Failure analysis)
· 材料改性(Material modification)
· 粘合促進等離子descum
· 表面處理(Surface treatment)
· 各向異性各項同性及刻蝕(Anisotropic and isotropic etching)
· 金屬刻蝕(Metal etching)
· Si02(二氧化硅), Si3N4 (氧化硅)及 SiOxNy(氮氧化矽)薄膜沉積
· II-V 刻蝕應用(III-V etching)
· 溝槽刻蝕(Trench etching)
· 鈍化層刻蝕(Passivation etching)
· 聚酰亞胺刻蝕(Polyimide etching )
· 亞納米級刻蝕(Submicron etching)
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統規(guī)格
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統的廣泛使用得益于其高性價比,多功能設計模塊,提供其他同類反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統沒有的工藝優(yōu)勢。這些包括層流安裝占地面積小,多款電極配置,及其zui大可滿足直徑8英寸(203毫米)基片處理等。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統基本模塊
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統基本部件包括一款基于Windows的PC控制器及其菜單存儲、質量流量控制的兩路通道控制(zui大可擴展至六通道)、溫度補償式電容壓力計用于測量工藝真空度、100毫米真空通道用于zui大工藝氣體電導、KF或ISO標準管件便于維護;及其它工藝及服務特性。工藝氣體導管未不銹鋼操作,配備VCE連接件。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統-真空處理艙
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統的真空處理艙采用整塊鋁合金建造成一體式設計。反應離子刻蝕(RIE)、等離子體增強化學氣相沉積(PEVCD)及平板電極系統均采用同樣的真空處理艙設計。真空處理艙上部包括一個電極,并且具有原位電極可調間距;真空艙下部包括基片電極,真空泵浦接口及氣體必要的真空閥及其真空監(jiān)控設備。自動升降臺抬舉真空艙上部便于接近底部電極。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統-電極配置
反應離子刻蝕(RIE)系列電極特別為達到低真空范圍的*等離子性能設計。上部的不銹鋼電極包括噴頭式工藝氣體供應系統。不銹鋼材質底部電極通過可選配冷卻循環(huán)槽來控制溫度。反應離子刻蝕(RIE)陽極采用暗區(qū)屏障設計,使等離子在兩塊電極之間產生。等離子體增強化學氣相沉積((PECVD )電極采用類似的設計,但是鋁制底部基片電極zui大可耐400℃高溫,而上部電極(通電電極)是采用水冷卻。鋁制電有氣體感應端口,便于沉積工藝后的快速冷卻。對于(等離子體增強化學氣相沉積(PECVD )應用,上部電極的間距可以在25.40至89毫米之間調節(jié)。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統-等離子電源
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統的電源可匹配廣泛的功率及其等離子電源頻率。所有的電源采用固態(tài)、風冷式。電源功率從300至1250瓦特均有,射頻頻率從40KHz(中頻)至2.45GHz(微波);系統標配為13.56MHz,600瓦特射頻電源??蛇x配自動或手動匹配器。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統-工藝處理真空泵浦
根據用戶的工藝需要,BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統配備機械泵、機械泵及渦輪分子泵,或是帶魯氏鼓風機的機械泵。也可根據所需真空處理級別配備不同尺寸大小的真空泵浦。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統-控制器
控制器采用電腦控制整個系統?;赪indows的控制軟件采用多屏幕顯示系統設備控制、數據記錄、稱呼設定及存儲,系統連鎖應需配備。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統-選配
為了增強BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統的工藝處理能力,BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統提供廣泛的工藝處理選項,包括終點檢測、水冷器(用于冷卻電極)、油霧分離器及吹掃系統、下周壓力控制、硬質陽極氧化真空艙。工藝廢氣處理系統也可提供。應離子刻蝕(RIE)/等離子體增強化學氣相沉積(PEVCD)任意結合的雙真空處理艙可以配置。反應離子刻蝕(RIE)/等離子體增強化學氣相沉積(PEVCD)組合配置具有明顯的多功能性,其優(yōu)勢在于避免不同沉積工藝的交叉污染。
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統尺寸
| 單真空處理艙 | Dual雙真空處理艙 |
寬: | 91厘米 | 104厘米 |
深: | 81厘米 | 114厘米 |
機柜高度: | 91厘米 | 91厘米 |
整機高度: | 129厘米 | 129厘米 |
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統重量
70~120公斤. (取決于具體系統配置).
BM8-II反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統安裝條件
等離子系統主機: |
|
| 220VAC/1/50Hz, 7A |
真空泵浦系統: | |
| 220VAC/1/50Hz, 5A |
電極冷卻水源: | 20℃ ±2℃ |
真空閥驅動氣源: | 0.88MPa |
氮氣: | 0.1~0.14MPa (用于真空處理艙吹掃)) |
氣源: | 等離子處理工藝氣體, VCR 管件 |
如果您對GIK反應離子刻蝕(RIE)/沉積(PEVCD)等離子處理系統感興趣,請索取更詳盡資料!
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