一．     激光誘導擊穿光譜儀  TSI LIBSTSI ChemReveal LIBS簡介

什么是LIBS

LIBS是Laser-Induced Breakdown Spectroscopy （激光誘導擊穿光譜儀）的簡稱。LIBS使用高峰值功率的脈沖激光照射樣品，光束聚焦到一個很小的分析點（通常10-400微米直徑）。在激光照射的光斑區域，樣品中的材料被燒蝕剝離，并在樣品上方形成納米粒子云團。由于激光光束的峰值能量是相當高的，其吸收及多光子電離效應增加了樣品上方生成的氣體和氣溶膠云團的不透明型，即便只是很短暫的激光脈沖激發。由于激光的能量顯著地被該云團吸收，等離子體逐漸形成。高能量的等離子體使納米粒子熔化，   激光誘導擊穿光譜儀  TSI LIBST將其中的原子激發并且發出光。原子發出的光可以被檢測器捕獲并記錄為光譜，通過對光譜進行分析，即可獲得樣品中存在何種元素的信息，通過軟件算法可以對光譜進行進一步的定性分析（例如材料鑒別，PMI）和定量分析（例如，樣品中某一元素的含量）。

   激光誘導擊穿光譜儀  TSI LIBST元素分析的前沿科技 

ChemReveal^TM  臺式LIBS激光誘導擊穿光譜儀為幾乎所有固體樣品中的幾乎所有元素的鑒定和分析提供了一種簡單直接的方法。事實上，這種化學分析解決方案相比傳統的元素分析方法具有以下難以超越的優勢： 

      激光誘導擊穿光譜儀  TSI LIBST幾秒內快速直接檢測

ChemReveal^TM 臺式LIBS激光誘導擊穿光譜儀可直接快速地對固體進行化學分析，而幾乎不需制備樣品。與ICP不同，LIBS無需繁雜的溶解過程，可直接分析固態樣品。   

   寬泛的元素檢測范圍

   激光誘導擊穿光譜儀  TSI LIBST當需要檢測Al、Mg、C等輕元素時，或是制備樣品時間不夠的情況下，LIBS是替代XRF的*選擇。事實上，ChemReveal^TM 臺式LIBS激光光譜儀可用來檢測元素周期表中原子序數z≥1(氫)的所有元素。尤其適合以下檢測：使用惰性氣體排除背景干擾，可檢測有機元素(C, H, O, N)的含量；一些尺寸小以及要求激光脈沖聚焦更深的不便于檢測的樣品；直徑小到5 μm的特征形貌的化學組成分析。    

    幾乎可檢測所有的固態樣品

ChemReveal^TM臺式LIBS激光誘導擊穿光譜儀在固態材料的多樣性和兼容性方面彌補了其他元素分析儀的不足。除了常規物質的檢測，TSI的解決方案可以*勝任對非晶材料、粉末、以及絕緣材料的檢測與分析，不僅如此，該儀器甚至可對材料進行微米尺度的微區分析與厚度輪廓分析。

   激光誘導擊穿光譜儀  TSI LIBST LIBS 與其它元素方法的比較

   激光誘導擊穿光譜儀  TSI LIBST

ChemReveal^TM 臺式激光誘導擊穿光譜分析儀是元素分析技術的*選擇

其它元素分析技術通常只為用戶提供其中一至兩種好處。而在冶金、制藥、陶瓷/玻璃、鍍層/薄膜、地質/煤炭、寶石等各種不同應用中能同時為用戶提供快速檢測、元素檢測范圍寬、樣品基體形態多樣性三大利益的元素分析解決方案只有一個：ChemReveal^TM 臺式LIBS激光誘導擊穿光譜儀。 

    激光誘導擊穿光譜儀  TSI LIBST

二．     TSI ChemReveal 臺式LIBS檢出限和定量分析

LIBS檢出限很大程度上取決于被測樣品的類型、具體哪些元素、以及儀器的激光器/光譜檢測器的選型配置。基于以上原因，LIBS的檢出限可以從幾ppm一直到%級的范圍。在大多數常規應用中，對于絕大多數元素，LIBS檢出限可以做到10 ppm到100 ppm。在定量分析中，通過LIBS獲得的測量結果的相對標準偏差可以達到3-5%以內，而對于均質材料通常可以到2%以內甚至<1%。

LIBS通常的檢出限：

Li, Be, B, Na, Mg, Al, K, Ca等元素                           >10ppm (即0.001%)

Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo等元素          >100ppm (即0.01%)

C, N, O, P, Si等元素                                                      >200ppm (即0.02%)

F, Cl, Br, S等元素                                                          >0.5%

   激光誘導擊穿光譜儀  TSI LIBST