單道掃描等離子直讀光譜儀的詳細說明：
     該型號單道掃描等離子直讀光譜儀的核心部分是高分辯率Czerny Turner單色儀光學系統。它配有3600刻線/mm或者4320刻線/mm的全息光柵，窄的入射狹縫及出射狹縫, 具有很高的分辯率和極低的雜散光，保證了系統在分析復雜基體樣品時，受光譜疊加的影響減到zui小。采用直接驅動裝置傳動光柵，保證了極快的分析速度和好的重現性。采用40.68MHZ RF發生器以保證高的信號背景比（S/B）和很低的檢出限。采用新技術設計了優良的檢測系統，保證了分析質量的可靠。以上這些特點使DGS-Ⅲ 在等離子體發射光譜儀分析中具有非常好的檢出限和任意選擇分析元素的靈活性。從而可分析各種物資材料的樣品成分, 特別在各種高純材料及高純稀土的雜質成分分析方面更具有優勢。該儀器在分析指標、穩定性、分析速度、軟件等各方面的技術指標均達到*水平。
       可對72種金屬元素和部分非金屬元素（如B,P,Si,Se,Te）進行分析.廣泛應用于稀土分析、貴金屬分析、合金材料、電子產品、冶金、地質、商檢、環保等部門和釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等領域需要檢測元素的定量分析及各種高純材料的雜質成份分析.儀器性能達到JJG768-2005A類標準（中華人民共和國國家發射光譜儀計量檢定規程）.