瑞典XCounter 雙能探測器
| 參考價 | ￥ 100000 |
| 訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 丹東林帝科技發展有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2017/12/10 23:37:25
- 訪問次數 1443
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瑞典XCounter 雙能探測器、
光子計數 直接轉換 能量分辨
•XCounter 采用CdTe作為直接轉換X射線探測器的轉換材料
•直接轉換X射線探測器具有更好的空間分辨率
•可獲得更小細節的清晰圖像
•動態范圍大，這對于獲取整幅圖像非常重要
•光子計數，具有更高的靈敏度，可在非常低的劑量下工作
•采用雙能曝光，具有區分材料的能力
雙能
• XCounter具有能量分辨能力，可以分辨出不同的材料
• 一次X射線獲取，可記錄兩種不同能量的X射線吸收劑量
• 利用不同組織和骨骼的吸收劑量的不同的特點，可以從圖像
中把它們區分出來
• 使得XCounter在醫療和工業領域*特色
• *的賣點
*的傳感器
• FLITE
? 0.75mm / 1mm CdTe zui大 225kV
? 成像面積 150mm x 25.6mm, 12.8mm, 或 6.4mm
? 拼接的探測器
? 100 um 像素
? TDS快速掃描
? 模塊設計，電子器件可再生利用，重組變成一個新的產品，
同樣的板子可適用于不同寬度
? 板子和板子之間的通訊允許鏈接
? 可對接的，以形成一個區域探測器
? 單一的開發庫
基礎材料
• 一塊PCB板，適用于
所有的探測器
• 傳感器陣列和PCB之
間靈活連接，可以有
不同的形式（未展示）
串聯拼接探測器
• 串聯拼接，形成更長的線陣探測器
• zui長至1m
產品描述
XC-FLITE FX1、FX2、FX3是直接數字轉換、雙能采集、光子計數X射線探測器，用于數字X射線成像系統，基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時間延遲總和（TDS）模式。
引進反符合技術的雙能采集功能，是XC-FLITE FX系列產品的*之處，在雙能采集過程中，收集到的光子能量分別設置為兩個獨立的閾值，并分別讀出，兩個能量設置可以用來區分材料，為醫療和工業新成像技術開啟了大門。反符合技術的引進，可以通過保證將每一個光子信號分布在正確的像素點上，以獲取更高的能量分辨率。
集成
XC-FLITE FX系列，通過GigE接口將XC-FLITE FX系列連接到計算機上，自帶靈活的軟件開發包，可控制所有XC-FLITE FX的功能；可用在Windows XP、Vista、Windows7和Windows8系統平臺
應用
*小范圍輻照
*小動物成像
*實驗室樣品和標本成像
*工業檢測（NDT）
特點&優勢
*三種尺寸可選
*CdTe-CMOS傳感器，高品質成像
*雙能采集，具有材料區分能力
*反符合技術，的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時間延遲總和（TDS）模式
*兼容Windows操作系統，從XP到Windows8
*綁定強大的可編程的開發軟件
基本參數
物理參數 |
|
|
尺寸 （L×W×H） |
| XC-FLITE FX1：23.1×13.1×6.0 cm |
溫度控制 |
| 內部的珀爾帖效應溫度控制 |
環境溫度 |
| +10 - +40℃ |
儲藏溫度 |
| -10-+60℃ @ 10% to 95% 濕度 |
射線窗 |
| 碳纖維， 厚500μm |
射線屏蔽 |
| 根據應用 |
傳感器 |
|
|
傳感器數量 |
| FX1：1 FX2：2 FX3：3 |
傳感器類型 |
| 雙能光子計數 CdTe-CMOS |
傳感器厚度 |
| 0.75mm-2.0mm CdTe |
有效面積 |
| FX1：154.7×12.8mm (1536×128像素) |
像素 |
| 100μm |
像素填充率 |
| * |
|
|
|
性能 |
|
|
幀率 |
| zui高1000 fps（也可選擇時間延遲求和模式） |
動態范圍 |
| 12 bits |
圖像面元 |
| 1×1，2×2，4×4 |
成像時間 |
| 100μs-5s |
DQE（0） |
| 85%@RQA5 spectra |
MTF |
| ＞80% @ 2lp/mm |
管KV范圍 |
| 15-250kVp |
內部測試圖樣 |
| Pseudo-random debug pattern |
外部觸發輸出 |
| 3.3V TTL |
輸入 |
| 5V |
滯后 |
| 0% |
拖影 |
| ＜0.1% X射線開啟后1分鐘，（12μGy） |
分辨率和DQE曲線 （反符合開CC on和閉CC off） 
產品描述：PDT25-DE
緊湊型、直接數字轉換、雙能采集、光子計數X射線探測器，用于數字X射線成像系統，基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發而成，PDT25-DE是一個小視場探測器，適用于潛在寬泛的能量范圍。
PDT25-DE可以基于幀率成像，也可以采用時間延遲總和（TDS）模式。
引進反符合技術的雙能采集功能，是PDT25-DE*之處，在雙能采集過程中，探測到的光子能量分別設置為兩個獨立的閾值，并分別讀出，兩個能量設置可以用來區分材料，為醫療和工業新成像技術開啟了大門。采用反符合技術，可以確保將每一個光子信號分布在正確的像素點上，以獲取更高的能量分辨率。
集成
通過高速率USB接口將PDT25-DE連接到計算機上，自帶靈活的軟件開發包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系統平臺上。
應用
*小范圍輻照
*小動物成像
*實驗室樣品和標本成像
*反向散射成像
*工業檢測（NDT）
特點和優勢
*CdTe-CMOS傳感器，高品質成像
*雙能采集，具有材料區分能力
*反符合技術，的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時間延遲總和（TDS）模式
*兼容Windows操作系統，從XP到Windows8
*綁定強大的可編程的開發軟件
技術參數
物理參數 |
|
|
尺寸 （L×W×H） |
| 94×54×20mm |
重量 |
| 150g（235g 帶鎢防護） |
溫度控制 |
| 內部的珀爾帖效應溫度控制 |
環境溫度 |
| +15 - +45℃ |
儲藏溫度 |
| -10 - +50℃ @ 10% -95% 濕度 |
zui大消耗功率 |
| 10W |
射線窗 |
| 碳纖維， 厚250μm |
射線屏蔽 |
| 根據應用 |
|
|
|
傳感器 |
|
|
傳感器類型 |
| 雙能光子計數 CdTe-CMOS |
傳感器厚度 |
| 0.75mm-2.0mm CdTe |
有效面積 |
| 25.6×25.6 mm2 |
像素 |
| 100μm |
像素填充率 |
| * |
|
|
|
性能 |
|
|
幀率 |
| zui高35fps |
動態范圍 |
| 12 bits |
成像時間 |
| 100μs-5s （通過軟件，可以設置更長時間） |
DQE（0） |
| 85%@RQA5 spectra |
MTF |
| ＞80% @ 2lp/mm |
管KV范圍 |
| 15-140 kVp |
內部測試圖樣 |
| Pseudo-random debug pattern |
外部觸發輸出 |
| 3-3 V TTL |
輸入 |
| 3-15V |
滯后 |
| 0% |
拖影 |
| ＜0.1% X射線開啟后1分鐘（12μGy） |
分辨率和DQE曲線 （反符合開CC on和閉CC off） 
產品描述
XC-FLITE X1、X2、X3是直接數字轉換、自掃描、雙能采集、光子計數X射線探測器，用于數字X射線成像系統，基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時間延遲總和（TDS）模式，掃描速度zui高90mm/s。
引進反符合技術的雙能采集功能，是XC-FLITE X系列產品的*之處，在雙能采集過程中，收集到的光子能量分別設置為兩個獨立的閾值，并分別讀出，兩個能量設置可以用來區分材料，為醫療和工業新成像技術開啟了大門。反符合技術的引進，可以通過保證將每一個光子信號分布在正確的像素點上，以獲取更高的能量分辨率。
所有精心設計的運動部件需要在XC-FLITE X系列的內部自動控制，整個掃描過程是透明可見的。
集成
XC-FLITE X系列，通過GigE接口將XC-FLITE X系列連接到計算機上，自帶靈活的軟件開發包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系統平臺
應用
*小范圍輻照
*小動物成像
*實驗室樣品和標本成像
*工業檢測（NDT）
特點&優勢
*三種尺寸可選
*CdTe-CMOS傳感器，高品質成像
*自掃描設計，透明可見
*雙能采集，具有材料區分能力
*反符合技術，的能量分辨率
*可基于幀率成像，也可以選擇時間延遲總和（TDS）模式
*掃描速度zui高90mm/s
*兼容Windows操作系統，從XP到Windows8
*綁定強大的可編程的開發軟件
技術參數單
基本參數
物理參數 | ||
尺寸 （L×W×H） |
| XC-FLITE X1：32.9×22.0×5.5cm |
溫度控制 |
| 內部的珀爾帖效應溫度控制 |
環境溫度 |
| +10 - +40℃ |
儲藏溫度 |
| -10-+60℃ @ 10% - 95% 濕度 |
射線窗 |
| 碳纖維， 厚500μm |
射線屏蔽 |
| 根據應用 |
傳感器 |
| |
傳感器數量 |
| X1：1 X2：2 X3：3 |
傳感器類型 |
| 雙能光子計數 CdTe-CMOS |
傳感器厚度 |
| 0.75mm-2.0mm CdTe |
有效面積 |
| X1：154.7×12.8mm(1536×128像素) |
像素 |
| 100μm |
像素填充率 |
| * |
性能 |
| |
zui大掃描速度 |
| X1：90 mm/s X2 & X3：255 mm/s |
幀率 |
| zui高1000 fps （也可選擇時間延遲總和模式） |
動態范圍 |
| 12 bits |
圖像面元 |
| 1×1，2×2， 4×4 |
成像時間 |
| 100μs-5s |
DQE（0） |
| 85%@RQA5 spectra |
MTF |
| ＞80% @ 2lp/mm |
管KV范圍 |
| 15-250kVp |
內部測試圖樣 |
| Pseudo-random debug pattern |
外部觸發輸出 |
| 3.3V TTL |
輸入 |
| 5V |
滯后 |
| 0% |
拖影 |
| ＜0.1% X射線開啟后1分鐘，（12μGy） |
分辨率和DQE曲線 （反符合開CC on和閉CC off） 
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