多功能光熱誘導納米紅外光譜二代(nanoIR2)
—100nm以下納米級紅外光譜分析
美國Anasys公司的納米紅外光譜系列包含有一個原子力顯微鏡用于探測形貌及成像,除此之外,采用一個可調脈沖激光源照射樣品,利用AFM針尖在納米尺度下探測輻射吸收,獲得納米尺度紅外光譜(空間分辨率<100nm) 。特定波長下的掃描成像圖為用戶提供超高分辨率的組分分布。
圖1 納米紅外光譜二代工作原理
納米紅外光譜系列二代產品(nanoIR2)采用側面入射光模式,大大簡化制樣過程,操作更加便捷,大大擴展了納米紅外光譜的使用范圍。為了滿足超薄薄膜的測試需求,*技術-共振增強模式*提高了納米紅外光譜的垂直靈敏度,使厚度20nm以下薄膜的光譜分析成為可能(見圖1)。
納米紅外光譜廣泛的應用在大量軟質物質的研究中,如聚合物共混物、薄至單層的薄膜、界面和表面、電紡纖維、細胞、細菌、淀粉質物質等。
nanoIR2的主要特點:
□ 簡化制樣過程,操作便捷
□ 納米級空間分辨率(<100nm)的光譜分析
□ 高清晰紅外吸收成像
□ 快速光譜測試,每條譜線采集時間~1min
□ 準確可解析的紅外光譜,可以使用商業的IR數據庫進行化學鑒定
□ 超高垂直靈敏度,可以進行超薄薄膜和單層膜的光譜測試
□ 多功能、互補的測試,可以獲得納米尺寸度下表面形貌、機械性能、熱性和化學信息之間的相關性
技術參數:
納米紅外光譜二代(nanoIR2) | 共振增強納米紅外光譜二代(nanoIR2) | |
激光可調范圍 | 900~2000cm-1,2250~3600cm-1 | 1200~1800cm-1 |
紅外光源線寬 | 平均4cm-1 | 1cm-1 FWHM |
zui小樣品厚度 | >50nm | <20nm |
納米機械性能成像 | 可以,通過接觸共振模式 | 不可以 |
IR吸收成像 | 可以, | 不可以 |
單層膜測量 | 不可以 | 可以 |
入射光模式 | 紅外光從樣品上方入射(nanoIR2) | |
測量技術 | 光熱誘導共振技術(PTIR) | |
檢測量 | 紅外光吸收 | |
XY方向掃描范圍 | 80x80um | |
Z方向掃描范圍 | >7um | |
空間分辨率 | 20~100nm | |
點光譜測量時間 | 約1分鐘 | |
標準成像模式 | 接觸模式;輕敲模式;力曲線模式;力調制模式 | |
可選成像模式 | 納米熱分析(nanoTA);洛倫茲接觸共振(LCR);掃描熱顯微鏡(SThM); 導電原子力模式(CAFM);其他模式可增加 |
應用案例:
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