PicoFemto（皮飛） 透射電鏡電學(xué)測量樣品桿

 　　透射電子顯微鏡是*的提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。PicoFemto（皮飛） 透射電鏡電學(xué)測量樣品桿是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操控和電學(xué)測量。并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，*地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

 　　包括包括兩部分，分別是掃描探針控制器（內(nèi)含電流前置放大器）與原位測量樣品桿部分。

 透射電子顯微鏡指標(biāo)

• 保證透射電鏡原有的分辨率（非球差校正）；

•  

 掃描探針操縱指標(biāo)

• 粗調(diào)范圍：XY方向3.0mm，Z方向1.5mm。

• 細調(diào)范圍：XY方向20um，Z方向2.0um。

• 細調(diào)分辨率：XY方向0.3nm，Z方向0.03nm。

電學(xué)測量指標(biāo)

• 包含一個電流電壓測試單元。

• 電流測量范圍：0-20mA，5個量程。zui小電流分辨率：30fA。

• 電壓輸出范圍：普通模式±10V，高壓模式±150V。

• 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

注：以上指標(biāo)可能根據(jù)系統(tǒng)配置不同而略有變化

PicoFemto（皮飛）是的透射電鏡（TEM）樣品桿制造商，提供電學(xué)、光學(xué)測量TEM樣品桿、力學(xué)測量TEM樣品桿、變溫樣品桿等特殊功能原位透射電鏡測量樣品桿。可搭配FEI，JOEL，日立各型號透射電鏡使用。PicoFemto（皮飛）擁有精通機械、光學(xué)、超高真空、電子技術(shù)、微納加工技術(shù)、軟件技術(shù)的團隊，為納米科學(xué)的研究提供zui的設(shè)備。如現(xiàn)有產(chǎn)品不能滿足您的科研需求，請與我們，可特別定制。