JEA系列紫外碳化硅SiC光電探測器（190nm-400nm）

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IFW 紫外探測器碳化硅 SiC

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西安立鼎光電科技有限公司是一家專業從事短波紅外成像系統及光電測試裝備的研發生產、系統集成、銷售服務為一體的高新技術企業。公司專注于為客戶提供從元件、組件、部件到全套光電系統產品的完整解決方案。

近年來，公司研制的短波紅外成像系統在激光光斑檢測、半導體檢測、激光通信、光譜成像、激光切割、生物醫療、天文觀測、安防、星敏感器、激光制導、反偵聽、激光測振等領域得到了廣泛的應用。

多年來，根據用戶需求定制的多款光電測試裝備，為用戶產品的性能指標保證發揮了重要作用，得到了客戶的高度認可。

展開

全波段光電探測器（0.2-26um），短波紅外相機(0.9-1.7um)，紅外熱像儀，微光夜視儀，成像機芯(0.9-1.7um/3-5um/8-14um)，EMCCD/SCMOS相機，光功率計/能量計，光譜分析儀，光纖滑環，激光器，激光測距機

紫外碳化硅SiC光電探測器（190nm-400nm）

一、JEA系列單獨封裝探測器：

1、JEA系列SiC探測（可選擇耐高溫至150℃）

注：以上探測器的工作溫度是-45℃至100儲存溫度是-40℃至100℃，焊接溫度是260℃。

紫外碳化硅SiC光電探測器（190nm-400nm）

二、JEA系列帶濾光片的SiC探測器：

Detector Model Number	Active area (mm2)	Spectral range (nm)	Reverse voltage (V)	Peak wavelength (nm)	Spectral responsivity (A/W) Typ	Dark current (fA)	Capacita-nce (pF)	Height of package H （mm）	Fieldof view (FOV) degree
JEA0.1C (TO5)	0,365x0,365	225-280	10	265	0.18	10	30	4.5	+/-45
JEA0,1BC (TO5)		228-322		275	0.19			4.5	+/-45
JEA 0.1B (TO5)		265-322		300	0.12			6.8	+/-45
JEA 0.1C-S (TO18)	0,365x0,365	220-280		265	0.18	10	30	5.2	+/-25
JEA0,1BC-S(TO18)		228-322		275	0.19				+/-25
JEA 0.1B-S (TO18)		265-322		300	0.12				+/-25
JEA1C (TO)	1*1	225-280		265	0.18	10	30	4.5	+/-45
JEA1BC (TO)		228-322		275	0.19			4.5	+/-45
JEA1B (TO)		265-322		300	0.12			6.8	+/-45
JEA2C (TO)	1.415*1.415	225-280		265	0.18	200	400	4.5	+/-45
JEA2BC (TO)		228-322		275	0.19			4.5	+/-45
JEA2B (TO)		265-322		300	0.12			6.8	+/-45