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飛馳(北京)科學儀器有限公司

化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>粒度儀>顆粒計數器>Zetaview _Particle M 納米顆粒跟蹤分析儀

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Zetaview _Particle M 納米顆粒跟蹤分析儀

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 KTIMES TECHNOLOGY LIMITED
  • 品牌
  • 型號 Zetaview _Particle M
  • 產地 德國Particle Metrix
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2024/8/19 19:55:17
  • 訪問次數 3864

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聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


KTIMES TECHNOLOGY LTD,.

KTIMES 成立于2011年,捷鈦儀器成立于2015年,

取得ISO9001認證(中\英文雙證),ISO14001認證(中\英文雙證),ISO45001認證(中\英文雙證),歐洲(意大利)CE雙指令質量認證

服務點包含:成都,長春,廣州,安慶,上海金山,上海奉賢(滬南服務中心)

從事化學分析,生命科學,生物制藥,化學制藥,材料物理等領域專業設備的銷售、制造。

主營:

物理化學類:

超高溫反應釜,超高壓反應釜,透明高壓反應釜,透明高溫反應釜,全自動熱平衡反應釜,量熱反應器,固定床反應器,全自動玻璃反應釜,PVT分析儀,相平衡反應釜。

超高壓腐蝕性測試系統,深海模擬系統,地層高壓模擬系統

超高溫爐燒結爐,高壓燒結爐,熱等靜壓爐,冷等靜壓爐,高溫高壓微采樣系統等產品。

生物類:

深海微生培養模擬系統,細胞動態跨膜電阻分析儀,外泌體分析系統,CO2振蕩培養箱

 

專業從事生物研發、化學研發、物理特性研究、材料研究、基礎學科研究實驗室各專業設備和工業制造設備的銷售及售后工作。

同時也與國內外各行業相對著名的品牌合作,帶來更廣泛的產品供客戶選擇,如 德國LAUDA、梅特勒-托利多、安東帕、威立雅-ELGA、LABCONCO、HORIBA、VIGI(在線色譜配套)、量子科學、海洋光譜(在線分析)、美國熱電、德國熱工(力康)、歐洲高壓裝置加工生產中心等公司產品簽定合作協議,產品覆蓋生物、化學、物理、材料科學等各領域。

自行開發的系統控制工業軟件,用于定制設備的全自動控制;

且可根據用戶要求進行功能升級改動。

我們秉承以優秀的服務為基礎的未來發展方向,

以“服務雖不能*,但能創造更*”的口號向前進發。

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

光譜儀器,培養反應系統定制,超高壓反應器定制,反應釜定制,高溫爐體定制

納米顆粒跟蹤分析儀

納米顆粒跟蹤分析儀

Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術,結合經典微電泳技術和布朗運動成為現代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能,讓用戶眼見為實,更加直觀人性化。通過子體積的掃描,來自于數以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來。此外,顆粒濃度也可以通過視頻計數分析得到。

Zetaview的特點 全自動和無源穩定性

自動校準程序會持續工作,即便是樣品池被取出后。防震動設計提高了視頻圖像的穩定性。通過掃描多個子體積并進行平均,就可以得到可靠的統計結果。有3種測量模式可供選擇:粒徑,zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個插入式的盒子中,盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。

  • 自動掃描,zui多可達100個子體積;

  • 自動聚焦;

  • 小巧,便于攜帶;

  • 防震動;

  • 光源從紫外線到紅光;

  • 插入式樣品池;

 

理論

平移擴散常數可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到。通過測試電泳遷移率,可以得到zeta電位。

 

納米粒子跟蹤分析(NTA)和動態光散射(DLS

所有的光散射儀器,包括粒子跟蹤技術,都存在一個問題:當顆粒大小低于100nm時,靈敏度會迅速的降低。動態光散射技術的zui低檢測限是0.5nm,對于納米顆粒跟蹤分析,其zui低檢測限是10nm。通常,DLSNTA的主要區別就在于濃度范圍。對于DLS,當樣品濃度太低時,zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務。相反,對于高濃度的樣品,DLS方法會非常的適合。

 

測量范圍

測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品,顆粒跟蹤技術的檢測下限為10nm;相應的,如果樣品的散射能力較弱,則檢測下限會變得更大。假如樣品穩定,不會沉淀或漂浮,zeta電位測量的粒徑上限為50微米,對于粒徑測量為3微米。

 

源于視頻分析的顆粒計數

顆粒濃度可通過視頻分析得到,并歸一化處理,散射體積對粒徑??蓹z測的zui小濃度為105粒子/cm3,zui大為1010粒子/cm3。對于200nm的顆粒,zui大體積濃度為1000ppm

 

準確度和精度

Zeta電位:準確度5mv,精度4mv,重現性5mv;

粒度測試(對于100納米的標準乳膠顆粒):準確度6nm,精度4nm,重現性4nm;

濃度測試(100納米的顆粒,濃度10Mio粒子/ml):準確度0.8 Mio/ml,精度0.5Mio/ml,重現性1Mio/ml

只要相機設置正確,樣品處理適當,則以上所有的數據均有效。

 

方法

Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。

 

技術參數

測量原理

zeta電位(微電泳),粒徑(布朗運動),顆粒濃度(視頻評價)

光學設計

具有單個粒子跟蹤功能的激光散射視頻顯微鏡

自動校準,自動聚焦

測量池

石英玻璃通道,插入式盒子,配有2個接口,用于流動沖洗和小體積傳輸

施加電壓

Zeta電位:-24V,+24V

粒徑:0V

光學系統

顯微鏡物鏡10倍變焦,數字相機,640×480px3060幀每秒

激光類型依賴于應用

Zeta電位測試范圍

-200~200mv

可測的粒徑范圍

Zeta電位:0.02-50微米

粒徑:0.02-1微米

下限和上限依賴于樣品和激光

PH范圍

1-13

溫度范圍

溫度控制

5-45℃(環境溫度)

RT-5℃,zui大45

電導率范圍

0-4ms/cm

內部控制-輸出

溫度,電導率,電場,漂移

準確度

Zeta電位:±4mv;粒徑:±6nm100nm的乳膠粒子標準品)

重現性

Zeta電位:±4mv;粒徑:±5nm100nm的乳膠粒子標準品)



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