15J 測量顯微鏡
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- 公司名稱 上海蔡康光學儀器有限公司
- 品牌 CAIKON/蔡康光學
- 型號 15J
- 產地 上海
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/11/7 13:34:13
- 訪問次數 3449
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 電子,航天,汽車 |
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一、儀器的主要用途
測量顯微鏡是光學計量儀器之一種,它的結構簡單,操作方便,適用范圍極
廣,主要用途如下:
1.直角座標中測定長度,例如測定孔距,基面距離,刻線距離,刻線寬度,鍵槽
寬度,狹縫寬度,通孔圓直徑等等。
2.轉動度盤測定角度,例如對刻度盤,樣板、量規,鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。
3.用作觀察顯微鏡,以比較檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版,檢驗紡織纖維等.
二、儀器的主要技術指標
x軸移動測量范圍: 50毫米
y軸移動測量范圍: 13毫米
測微器分度值: 0.01毫米
測量臺轉動范圍: 不限
測量臺刻度盤分度范圍: 0° - 360°
測量臺刻度盤之分度值: 1°
測量臺刻度盤游標讀數示值: 6"
照明方式:反射光(自然光)
測量精度:儀器值誤差(5+L/15)微米
儀器示值誤差:包括測量誤差與儀器系統誤差。
儀器之主要尺寸: 測量臺與物鏡間之zui大距離:80毫米
測量工作臺直徑: 120毫米
儀器外形尺寸: 高325長262寬220毫米
儀器重量級: 約10.6公斤
顯微鏡目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉,顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦
注:測量地點溫度變化(20 ± 3)C;L—被測件長度(毫米)