JOBIN YVON（法國JY）輝光光譜儀- GD-PROFILER能夠對固體樣品的（包括導電性及非導電性材料）進行表面逐層分析，界面分析及樣品整體成分分析，而且具有這些分析所需的高靈敏度和高的深度分辨率。
• 化學熱處理 – 碳化、氮化、碳氮化等 。
• 鍍鋅板（熱鍍鋅、鋅鐵合金化、鋅鋁合金化等）。
• 鍍錫板、磷化、鉻化等。
• PVD / CVD 涂層等。
• 鋁、鉛復層
• 薄的有機膜涂層
• 彩涂板
• 半導體、太陽能電池、玻璃、陶磁

JOBIN YVON（法國JY）輝光光譜儀技術參數：
GD-Profiler 系列包括2 種型號，全部裝備RF 射頻光源，每種型號均有多種選配件，用于滿足不同用戶的測試要求和預算。GD-Profiler2 可測試多種樣品，有著*的性價比，GD-Profiler HR 是目前商品化的輝光光譜儀中性能高的，二者均可分析導體和非導體的固體樣品。廣泛應用于傳統的鍍鋅/錫板（彩涂板）、汽車工業、航空航天、熱處理（滲碳/滲氮）、陶瓷工業、玻璃工業、表面污染以及當前在歐美和日本科研與工業對半導體電子（液晶面板/硬盤/芯片）、新能源（鋰電池/LED/光伏）研究與分析應用可以替代原來只能依賴的SIMS(二次離子質譜)或XPS（光電子能譜儀）。與其相比之下GDS 做到更高效、更快速、更經濟等多方面優勢，受到越來越多的科研工作者的認可與青睞，刮起一股從西方到東方席卷的輝光新風尚。