Examine R 共焦拉曼顯微鏡
- 公司名稱 先鋒科技(香港)股份有限公司
- 品牌
- 型號 Examine R
- 產(chǎn)地 德國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/11/27 8:46:54
- 訪問次數(shù) 4044
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光譜相關(guān)產(chǎn)品,激光與測量系統(tǒng),影像采集,光度色度儀器,探測器產(chǎn)品,氣體傳感器,光學(xué)元件等光電產(chǎn)品
共焦拉曼顯微鏡
Examine R 高性能共焦拉曼顯微鏡
正置ExamineR (含Raman Mapping)
Examine R特別適合于生命科學(xué),地質(zhì)學(xué),納米科學(xué),和半導(dǎo)體,刑偵應(yīng)用。可以做微區(qū)化學(xué)分析。
Examine R拉曼顯微鏡采用Olympus顯微鏡,匹配DeltaNu高性能拉曼光譜儀,構(gòu)成一套高性能的拉曼顯微鏡,由于同時具有非常合理價格的優(yōu)勢,成為業(yè)內(nèi)高性能價格比拉曼顯微鏡的者
圖片:帶遮光系統(tǒng)的Examine R高性能拉曼顯微鏡
本系統(tǒng)可以方便的更換532,785,1064nm激光模組和光譜探測模組,用戶不會像某些廠家的產(chǎn)品遇到繁瑣的更換激光,光柵或探測器的問題。
產(chǎn)品特點:
532,785,1064nm激光模組
激光功率控制
高光譜分辨率
全固化光路,超級穩(wěn)定
1064nm 一次攝譜范圍200-2000波數(shù)(匹配高性能制冷InGaAs CCD)
785nm一次攝譜范圍200-2000波數(shù)(或100-2000波數(shù)),匹配高性能近紅外靈敏制冷CCD
532nm一次攝譜范圍200-3400波數(shù),匹配高性能制冷CCD
顯微鏡空間分辨率達到衍射限
自動X-Y-Z平臺,實現(xiàn)高精度共焦拉曼影像掃描(Raman Mapping)
顯微鏡附帶高性能影像CCD用于可視化調(diào)節(jié)
可選3D影像重構(gòu)功能。
可做溶液環(huán)境下顯微拉曼
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資料舉例:
- ExamineR產(chǎn)品樣本
- ExamineR測試半導(dǎo)體晶片缺陷(簡介:zui近幾年,微電子器件的加工尺度已經(jīng)從45nm減小到32nm, 由于芯片刻蝕,晶片轉(zhuǎn)運等工藝過程均可能帶來納米尺度的污染從而導(dǎo)致器件失效,分析缺陷點包括金屬微粒分析,有機或無機微粒分析。 顯微拉曼是一種非常有效的分析晶片材料結(jié)構(gòu)和污染微粒組份與空間分布的手段,從而為用戶提供了分析污染來源并改善工藝,提升良品率的實驗平臺)
- ExamineR測試非晶態(tài)硅用于太陽能電池研究(采用顯微拉曼光譜法測試太陽能電池材料,可以用于優(yōu)化工藝參數(shù),從而提升太陽能電池的轉(zhuǎn)化效率和使用壽命)
- ExamineR測試礦石包裹體及拉曼影像(簡介:高靈敏度顯微拉曼測試礦石包裹體內(nèi)含的微小固,液,氣相的組份為用戶提供了一個方便快捷,幾乎無需樣品制備的實驗手段)