Dexela1207/1512/2307/2315 Dexela2923數字射線平板探測器
| 參考價 | ￥ 100000 |
| 訂貨量 | ≥1 件 |
- 公司名稱 增宜檢測技術（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 Dexela1207/1512/2307/2315
- 產地 美國
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2023/6/29 12:52:39
- 訪問次數 3905
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增宜檢測技術（上海）有限公司是一家專注于無損檢測設備，理化分析計量儀器，實驗室科研器材銷售及服務的一站式集成供應商。公司代理許多上享譽*的先進產品。
我們提供的工業產品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光間隙測量儀、X射線機、平板探測器、磁粉探傷機、著色滲透劑、聲發射檢測儀器、泄漏儀、內窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實驗室試驗檢測設備。
我們的產品廣泛應用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風電、核工業、軍工、特檢和高校科研等多個行業領域，并贏得了廣大用戶的良好口碑。
公司秉承“至信卓業，客戶至上”的經營宗旨，崇尚“專業，高效，共贏”的服務理念，為廣大客戶提供優質的產品，優質的服務。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。
主要代理如下公司產品：
奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內窺鏡/光譜儀
Third Dimension英國三維激光間隙測量儀
ZETEC探傷儀
GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內窺鏡/射線機
萬睿視平板探測器/管頭
Eddyfi & M2M探傷儀
美國磁通磁粉滲透
Eddyfi & M2M探傷儀
奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2，英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀，美國萬睿視Varex射線數字平板探測器，奧林巴斯超聲波探傷儀，奧林巴斯渦流探傷儀，內窺鏡，元素分析儀，美國磁粉滲透
| 應用領域 | 醫療衛生,能源,冶金,航天,汽車 |
|---|
Dexela2923數字射線平板探測器
為了獲得用于非破壞性測試成像的高分辨率的圖像質量，請升級到1207N Varex Imaging CMOS（互補金屬氧化物半導體）X射線平板探測器。
1207N CMOS平板探測器是具有出色靈敏度的高速，低噪聲X射線探測器。 該探測器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術，并提供了一系列閃爍器和接口選項。
CMOS平板檢測器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實時和計算機斷層掃描（CT）成像以及具有高動態范圍的靜態成像。
1207N平板探測器的功能和優點包括：
- 74.8μm像素間距
- 1536 x 864像素
- 高靈敏度和高動態范圍模式
- 高工作電壓160 kV
- 適用于高達191 fps的實時成像
- 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并選項
- 高DQE
- 各種閃爍器選項
- X射線發生器同步的輸入/輸出
- Camera Link或GigE Vision數據連接
1512N
為了獲得用于非破壞性測試成像的高分辨率的圖像質量，請升級到1512N Varex Imaging CMOS（互補金屬氧化物半導體）平板探測器。
1512N CMOS平板探測器是具有出色靈敏度的高速，低噪聲X射線探測器。 該探測器采用的大面積CMOS圖像傳感器技術，并提供了一系列閃爍器和接口選項。
CMOS平板檢測器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實時和計算機斷層掃描（CT）成像以及具有高動態范圍的靜態成像。
1512N平板探測器的功能和優點包括：
- 74.8μm像素間距
- 1944 x 1536像素
- 高靈敏度和高動態范圍模式
- 高225 kV的操作
- 適用于高達86 fps的實時成像
- 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并選項
- 高DQE
- 各種閃爍器選項
- X射線發生器同步的輸入/輸出
- Camera Link或GigE Vision數據連接
2315N
CMOS平板檢測器具有可切換的像素增益，這使其非常適合實時和計算機斷層掃描（CT）成像以及具有高動態范圍的靜態成像。
2315N平板探測器的功能和優點包括：
- 74.8μm像素間距
- 3072 x 1944像素
- 高靈敏度和高動態范圍模式
- 高工作電壓160 kV
- 適用于高達191 fps的實時成像
- 1 x 1、2 x 2和4 x 4像素合并選項
- 高DQE
- 各種閃爍器選項
- X射線發生器同步的輸入/輸出
- Camera Link或GigE Vision數據連接
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