徠卡LAS X軟件
- 公司名稱 徠卡顯微系統（上海）貿易有限公司
- 品牌 Leica/徠卡
- 型號
- 產地 德國
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/11/4 8:08:32
- 訪問次數 4972
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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工,石油,電子 |
|---|
徠卡LAS X軟件自動控制功能
顯微鏡參數控制
用戶可以通過軟件控制顯微鏡的光強、孔徑光闌、視場光闌、放大倍數和觀察方式等。
照相機參數控制
用戶可以通過軟件控制照相機的曝光時間、增益、彩色/黑白模式、自動曝光、白平衡等，還可以將照相機設置參數存儲并再次調用。
自動拍照
使用軟件可以選擇采集圖像的分辨率和格式，并一鍵拍攝照片至*的存儲路徑。
存儲器
用戶可以存儲各自使用參數，如不同物鏡倍數觀察時光強度、孔徑光闌大小、視場光闌大小等，參數可被存儲、恢復和刪除。
自動對焦
配合具有電動調焦功能的顯微鏡和數字相機，實現顯微鏡的自動對焦。
視頻錄制
基于觀看者的幀速率獲得一系列圖像，可以保存為自定義回放幀速率的AVI或者MP4文件格式。
間隔時間拍攝
可在用戶界面定義圖像采集的持續時間和頻率，包括采集直到停止功能和小時間間隔功能。
景深合成
景深合成（EDOF）功能有效地將單焦點區域圖片通過三維堆棧整合起來，在定義高度區間內按順序在不同的Z位置采集每一層圖像，并以此創建一張清晰大景深的圖片。
3D表面查看器
3D表面查看器功能可以更好地查看EDOF圖片的表面細節，可在EDOF圖片上選擇覆蓋帶有顏色編碼的深度圖，具有相同高度的區域容易被識別。通過放大、旋轉3D圖片能獲得一個可以看到更多特征的視角，并可將圖片保存到電腦中。
標記和查找
LAS X軟件可在寬場系統中進行標記和查找，定義多區域位置并在實驗設置時重新訪問，或作為可選拼圖模塊的設置部分。
拼圖
拼圖功能包括創建概覽圖、XY拼圖和XYZ拼圖。
徠卡LAS X軟件件圖像測量與自動分析
測量
測量參數包括長度、面積、周長、半徑和角度等，所有測量參數可顯示在活圖界面或已存儲的圖像，并且可以導出到表格中或創建報告。
注解
注解功能為活圖和已存儲的圖像提供綜合工具，包括文本框、線段、箭頭、圓、矩形和距離測量，所有注解均可與圖像合并保存或復制到另外一張圖片上。
分劃板
分劃板數字式顯示在圖片上，仿照固定的目鏡計數線，以不同的形式和形狀出現，如比例尺、十字準線、方形、圓形、計數網格或金相對比圖表等。根據應用分劃板可以被固定、收縮或自由旋轉，在合適的情況下，會自動調整放大倍數。
2D圖像自動分析
2D 分析可以根據幾何形狀和形態特征以及物理性質，如亮度或顏色進行自動分析，為特征（微粒、毛孔、纖維、細胞等）測量參數（大小、形狀、位置、方向等）。被識別的特征可根據2D 分析模塊中的可用參數進行分類，通過選擇一個或多個類的幾個樣本，2D分析模塊可以自動確定所有相關參數。
3D測量
EDOF圖像包含每個像素的高度信息，因此，可以將其視為三維模型，分析表面結構和進行3D測量。
LAS X 專業分析
晶粒度分析
晶粒度專家允許用戶快速執行鋼和其他材料的結構分析，大量的結構和樣品類型可以使用高度精確的邊緣檢測算法進行研究。鑒于傳統的體視學方法是通過一維方法估計晶粒尺寸，而 LAS X 晶粒專家則是應用特定的二維算法直接測量晶粒面積。與傳統的非數字方法相比，這種特殊方法可實現較高精度。LAS X 晶粒專家涵蓋面向金相學晶粒尺寸分析的多個標準，如 ASTM E112、DIN/EN/ISO 643、GOST 5639 和 JIS G0551。
相分析
相專家用于對多相和微觀結構組分進行高級分析，可用于鑒定和自動測量多10個相，通過相關數字圖片的顏色或對比度變化來鑒定不同的相，可測量面積、長度和圓度等多種參數。
脫碳分析
脫碳專家用于鑒定和分析經過熱處理的非合金鋼和低合金鋼截面的表面脫碳。依據產品標準中規定小的碳含量，脫碳層深度自動計算，可選的手動模式使其可以應用到不在行業標準范圍內的結構。LAS X 脫碳專家軟件涵蓋用于確定鋼脫碳深度的多個標準 (ASTM 1077、DIN 50192、ISO/DIN/EN3887、JIS G0558 等)。
鑄鐵分析
鑄鐵專家提供了一種用于快速分析鑄鐵中石墨微觀結構的方式，如球墨鑄鐵或蠕墨鑄鐵。與基于比較的傳統方法不同，LAS X 鑄鐵專家自動確定石墨球的類型、形狀、尺寸和分布等，獲得的結果可依據標準表示 ，如ASTM A247、ISO 945-2、JIS G 5502等。除了對石墨進行分析外，鑄鐵專家還可用于分析鐵素體和珠光體的含量。
鋼鐵夾雜物分析
Steel Expert 軟件可以快速準確地評定非金屬夾雜物，確保鋼材質量符合各項標準。您可以輕松地許可特定的或地區鋼材標準、實施新標準，或者更新和變更到新標準，支持標準包括GB/T 10561、ISO 4967、 EN 10247、 ASTM E45、DIN 50602、IS 4163、 JIS G0555、 KSD 0204和SEP 1571等。您還可以創建自定義標準，以便按照行業組織的規范和流程執行分析。
清潔度分析
清潔度專家可以快速區分反光(金屬)和非反光顆粒，快速統計顆粒和纖維的數量及尺寸，并依據標準進行分類，可實現分析過程自動化并輕松生成報告。LAS X清潔度專家支持更多標準，包括ISO 16232、VDA19 Standard/ Extended、ISO 4406、 DIN 51455、 USP 788、 SAE AS4059、 NAS 1638和User Defined。
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