J200 LIBS元素分析儀

一、簡介

J200 LIBS元素分析儀基于30多年激光剝蝕基礎理論研究成果，系統快速、可靠、環保，可適應從實驗室到現場再到生產車間的各種應用環境。

二、系統功能

J200 LIBS元素分析儀專為處理需高靈敏度和準確性的分析而設計，周期表中許多元素檢測限可達ppm個位數，挑戰樣品基質中多元素定量分析。系統實現了從氫元素到钚元素的全元素測量，包括H、N、O等輕元素以及鹵族等其他傳統方法（包括ICP-MS）不能測量的元素。系統*的設計確保每個激光脈沖的可重復測量結果。

系統將LIBS技術和ICP-MS結合，將剝蝕出的固體樣品微粒直接送入ICP-MS進行更準確的分析，避免酸溶、消解等樣品前處理帶來的二次污染和可能的誤差引入，同時提升元素檢測限，實現寬范圍元素含量測量，還能進行元素空間分布制圖。

檢測范圍

J200 LIBS元素分析系統可分析各種樣品，包括土壤，植物，礦物、生物組織，刑偵材料（玻璃、油墨等），合金，半導體，絕緣體，塑料，薄涂層和電子材料等等。

檢測元素種類

常量元素N, P, K, Ca, Mg, S

微量元素Fe, Cu, Mn, Zn, B., Mo, Ni, Cl

痕量元素：可檢測化學周期表上大部分元素

有機元素C、H、O和輕元素 Li、Be、Na等（其他技術難同時檢測）

同位素（升級與ICP-MS 聯用測量)

三、應用領域

• 常規土壤元素分析

• 土壤污染檢測

• 刑偵微量物證分析

• 煤粉組分分析

• 礦物檢測

• 生物組織分析

• 農產品檢測

• 合金分析

• 寶石鑒定

• 各種材料分析等

四、系統硬件

優化等離子體光收集，實現高靈敏度測量。

系統確保高準確性和可重復性。LIBS分析種提高LIBS數據精度的關鍵要求之一是激光始終如一的聚焦到樣品表面。剝蝕導航激光和樣品高度自動調整傳感器相結合，解決了樣品表面凹凸不平導致剝蝕不均勻的問題。激光能量穩定閥確保到達樣品表面的激光能量穩定一致，系統標配3D全自動操作臺。

系統可升級與ICP-MS連用，在進行LIBS元素分析的同時，將固體樣品剝蝕顆粒直接送入ICP-MS系統，實現更準確分析。這彌補了ICP-MS不能測量部分輕元素的不足，也避免了復雜樣品前處理及由此引入的二次污染和誤差。系統可與市面上絕大多數主流品牌ICP-MS聯用。

系統標配固體樣品室，還可選擇配置氣體或液體樣品室，通過設置可自動切換光路系統，實現固、液、氣體樣品室在同一系統中的自動化切換，無需人為拆卸。

系統的硬件采用模塊化設計，易于更新。激光器和光譜儀可根據樣品的種類及用戶研究目的進行升級，兩者均不受外界環境溫度影響，無需進行特殊的環境控制，使用壽命長。

系統具備雙相機系統，分別用于廣角成像整體觀察樣品確定采樣區域，然后另一個成像系統放大樣品區域進行采樣。

激光能量和激光光斑大小連續可調，激光脈沖能量穩定一致，可實現樣品分層剝蝕、夾雜物和微光斑分析（直徑達5μm）、元素分布制圖、高精度定量等多種分析。

五、系統軟件

系統軟件能實現對所有硬件組件的控制，能提供多種采樣模式，包括直線、曲線、隨機點、網格任意大小和自定義采樣等，通過設置參數，可在無人值守的條件下自動進行大面積采樣。

ASI公司的TruLIBS™數據庫是等離子體發射光譜數據庫，與NIST數據庫相比，TruLIBS™數據庫能快速、準確地識別復雜的元素譜線，各種搜索功能，如波長范圍、元素種類和等離子體激發態，將搜索時間縮短至幾秒。TruLIBS™同時允許用戶直接上傳元素激光誘導特征譜線，進行譜峰的識別和標記。

系統內置的數據分析軟件功能強大、分析速度快。能任意選取譜線及背景，自動計算譜線的凈強度；計算兩個波峰之比；自動計算所有波峰的標準偏差；同步分析所有文件夾及目錄下的測量數據。多次采樣時，軟件自動統計監測LIBS的強度 ，監控信號質量，獲得準確的定性和定量分析結果。

數據分析軟件具有單變量和多變量校準曲線制定功能，易于完成高精度定量分析。單變量標定曲線對于基質較為簡單的樣品分析效果較好。多變量標準曲線用于分析基質較為復雜的樣品，例如土壤、植物樣品等，以減少基質中其它元素對目標元素的影響，提高分析準確性。

J200的數據分析軟件還整合了PCA、PLS-DA、多參數線性回歸等多種化學統計分析功能。可對樣品進行快速分類鑒別，并可通過樣品某一特定元素的二維或三維分布制圖，展示樣品的元素空間分布。

產地：美國