貝克曼庫(kù)爾特新一代 LS 13 320 XR，是一款全自動(dòng)、高分辨率、高準(zhǔn)確性、高重現(xiàn)性以及操作非常簡(jiǎn)單的干濕兩用粒度分析儀，它將激光衍射粒度分析儀提升到了一個(gè)更高的水平。

• 升級(jí)版 PIDS 技術(shù)（發(fā)明號(hào)：4953978，5104221）真正實(shí)現(xiàn)10nm粒徑測(cè)量，優(yōu)化的132枚檢測(cè)器保證了儀器分辨率

• 干法樣品臺(tái)采用龍卷風(fēng)分散技術(shù)（發(fā)明:US00645414B-1）。整個(gè)系統(tǒng)不僅*粒度表征的需求，可以測(cè)量粒徑范圍更寬的顆粒（10nm-3500um），而且高分辨率+特色樣品臺(tái)，不論樣品是單峰、雙峰還是多峰，不論納米、微米還是納微米，均可以更快、更可靠地檢測(cè)到顆粒粒徑間極細(xì)微的差異，實(shí)現(xiàn)高分辨率的檢測(cè)。

132 枚檢測(cè)器，超高分辨率，準(zhǔn)確測(cè)量細(xì)微差異

X-D陣列檢測(cè)器 - 確保微米顆粒高分辨率的準(zhǔn)確測(cè)量

• 特殊設(shè)計(jì)X型對(duì)數(shù)排布檢測(cè)器陣列，可以準(zhǔn)確記錄散射光強(qiáng)信號(hào)，獲得真實(shí)準(zhǔn)確的粒度分布

• 132枚檢測(cè)器能夠清晰區(qū)分不同粒度等級(jí)間散射光強(qiáng)譜圖差異，快速、準(zhǔn)確的提供真實(shí)粒度分布

• 優(yōu)化的檢測(cè)器信噪比，大大提高了檢測(cè)到散射光強(qiáng)譜圖細(xì)微變化的能力

PIDS技術(shù)：偏振光強(qiáng)度差散射 - 真正實(shí)現(xiàn)納米顆粒測(cè)量

• 傳統(tǒng)方法測(cè)量亞微米顆粒依靠背散射光，其散射光強(qiáng)譜圖在形狀和強(qiáng)度上都非常相似，區(qū)分比較困難，因此由于分辨率低而造成不準(zhǔn)確的粒度測(cè)量。

• 亞微米顆粒在水平和垂直偏振光下可形成差異的散射譜圖，而這些差異便是亞微米顆粒識(shí)別的重要信息。

• PIDS技術(shù)采用了3種不同波長(zhǎng)的光順次照射樣品，首先為垂直偏振，然后為水平偏振，通過(guò)分析每個(gè)波長(zhǎng)的水平和垂直輻射光之間的差異，便可獲得亞微米樣品準(zhǔn)確的粒度分布信息

• 升級(jí)版PIDS技術(shù)從光源到濾波器再到檢測(cè)器都進(jìn)行了全面的升級(jí)，使得測(cè)量亞微米顆粒的動(dòng)態(tài)范圍和分辨率都得到了更大程度上的提高。

ADAPT多峰樣品自動(dòng)檢測(cè)，更放心

• 憑借業(yè)界出眾的技術(shù)，無(wú)需預(yù)估樣品峰型（比如多峰、窄分布），無(wú)需選擇分析模型，輕松準(zhǔn)確分析多峰樣品，讓您對(duì)測(cè)試結(jié)果更放心

• 準(zhǔn)確性誤差優(yōu)于±0.5%

• 重復(fù)性誤差優(yōu)于0.5%

數(shù)據(jù)完整性及合規(guī)性

LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析儀配備符合GMP要求的驗(yàn)證程序，可滿足安裝驗(yàn)證（IQ）和運(yùn)行驗(yàn)證（OQ）所需。

簡(jiǎn)單、直觀的操作軟件

• 從開始測(cè)量到獲得結(jié)果僅需 2 次點(diǎn)擊

• 包含集成的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)

• 隨時(shí)向您通報(bào)有用的用戶診斷報(bào)告

• 精簡(jiǎn)的工作流不僅易于使用，更節(jié)省時(shí)間

應(yīng)用

廣泛應(yīng)用于土壤、沉積物、面粉、淀粉、奶粉、食品添加劑、飲料、黏合劑、合金、金屬粉末、硅微粉、3D打印、涂料、顏料、藥物、礦物、紙、化妝品、煤粉、鋰離子電池材料、建材紡織、甚至生物顆粒等應(yīng)用領(lǐng)域

擅長(zhǎng)樣品類型：

• 寬分布樣品

• 極限顆粒（納米、>1000微米）

• 多峰樣品

• 數(shù)量微小變化