LSM900共聚焦顯微鏡系統使用激光作為光源，采集樣品一定光切厚度的激光反射信號，并在三維高度上進行掃描得到光切面的圖像堆棧。光路中設置有小尺寸的光欄(通常稱為針孔)，該針孔僅允許焦平面的光線通過，阻擋非焦平面的光線進入探測器。

　　為了對光切面進行成像，還需要控制激光束進行X、Y方向的掃描。掃描的時候，焦平面的信息會呈現亮色，而非焦平面的信息會呈現黑色。

　　移動樣品和物鏡的相對位置，就可以以無損方式得到一系列沿高度方向上的光切面圖像堆棧。

　　分析水平圖像上單個像素位置在高度上的亮度變化曲線，就可以得到當前像素位置的物體高度值。綜合整個視場內所有像素位置的高度信息就可以形成測試面積上的高度分布云圖。

　　物鏡

　　共聚焦專用C Epiplan-APOCHROMAT高性能物鏡

　　使用復消色差平視場校正C Epiplan-APOCHROMAT系列物鏡，可以更好地滿足反射光應用的嚴苛要求。

　　該系列物鏡可以保證在可見光譜范圍內具有出色的成像對比度，以及高透過率。

　　同時還可以在寬場觀察模式下得到很好的微分干涉效果，以及清晰的熒光圖像。

　　C Epiplan-APOCHROMAT物鏡專為共聚焦成像設計，在使用激光波長405 nm的情況下，能夠實現全視野中最小的像差。使用這一物鏡能夠以更少的干擾噪聲和偽影來產生更好的形貌數據，進而呈現更多樣品表面細節。

　　軟件

　　OAD：ZEN成像軟件的接口

　　蔡司LSM包含新版本的ZEN成像軟件，其中包括用于數據交換的開放式應用程序開發(OAD)接口。

　　自定義和自動化您的工作流程。當基礎版ZEN軟件無法滿足您的需求時， 您可以使用已建立的第三方分析和研究軟件(如MATLAB)交換數據。

　　您可自行創建宏解決方案。輕松獲得ZEN的一系列重要功能，等元件庫的能力。

　　用ConfoMap進行3D表面分析

　　ConfoMap是實現3D表面形貌顯示和分析的理想選擇。

　　根據新的計量標準進行表面性能的質量與功能評估，。

　　您可以在軟件中對圖像進行綜合幾何形狀、功能性和粗糙度研究，以及創建詳細的表面分析報告。

　　新增可選模塊用于高級表面紋理分析、輪廓分析、晶粒與顆粒分析、3D 傅立葉分析及表面進化分析和統計。