zeta電位及粒度分析儀
- 公司名稱 上海萊誼納米科技有限公司
- 品牌 PSS
- 型號
- 產(chǎn)地 美國
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/8/26 12:03:27
- 訪問次數(shù) 4521
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 分散方式 | 濕法分散 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 動態(tài)光散射 |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥 | 粒度范圍 | 0.3nm--10.0μm |
| Zeta電位范圍 | -500mV?--?+500mV |
zeta電位及粒度分析儀簡介：
在原有的經(jīng)典型號380ZLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。
zeta電位及粒度分析儀技術(shù)優(yōu)勢
1、高靈敏度PMT檢測器；
2、可搭配不同功率光源；
3、準(zhǔn)確度高，接近樣品真實(shí)值；
4、可測試水相及有機(jī)相樣品的粒度及Zeta電位；
5、快速檢測，可以追溯歷史數(shù)據(jù)；
6、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn)；
7、符合USP,CP等個(gè)多藥典要求；
8、無需校準(zhǔn)；
9、復(fù)合型算法：
（1）高斯（Gaussion）正態(tài)粒度分布與*的Nicomp多峰分布算法自由切換
（2）頻率（Frequency）Zeta電位分析法與*的相位（Phase）分析法自由切換
10、模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級；
（1）可自動稀釋模塊（選配）；
（2）自動進(jìn)樣系統(tǒng)（選配）；
（3）搭配多角度檢測器（選配）；
優(yōu)勢：模塊化設(shè)計(jì)
Nicomp Z3000納米激光粒度儀是全*在應(yīng)用動態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的*進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級和增加，Nicomp 的功能體系越來越強(qiáng)大，可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析。
選配 21CFR Part 11法規(guī)軟件——符合cGMP要求
Nicomp系列儀器全系配備了符合美國聯(lián)邦法規(guī)21章第11款（21 CFR PART11）要求的軟件。具有數(shù)據(jù)自動備份，審計(jì)追蹤，權(quán)限分級，電子簽名，可連接Lims系統(tǒng)等多項(xiàng)功能。
中國食品藥品監(jiān)督管理局（NMPA）有政策趨勢將對醫(yī)藥研發(fā)企業(yè)實(shí)施規(guī)范的GLP 管理。使用符合21 CFR PART 11法規(guī)的軟件更能符合現(xiàn)在GLP/GMP的要求。
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