圣賓儀器科技（上海）有限公司是一家專注于分析檢測行業的系統性供應商，一直致力于分析測試技術方面進口儀器的配件耗材供應，主要優勢經銷代理品牌：美國賽默飛世爾（ThermoFisher）原裝配件耗材（比如：ICP光譜,ICP-MS質譜,AAS原子吸收光譜, GC-MS氣質,LC-MS液質,ARL直讀光譜ARL3460,ARL4460,ARLiSpark8820/8860/8880）,9800/9900X熒光光譜，同位素質譜，紅外光譜等儀器備件），珀金埃爾默（PerkinElmer）耗材，美國安捷倫（Agilent）耗材，美國沃特世（Waters）耗材，戴安（DIONEX）色譜耗材，島津（SHIMADZU）耗材，瑞士萬通（Metrohm），CEM耗材等。

4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極

賽默飛FEL 部分配件耗材

16830 離子源

4035 273 12631   拔出極

4035 273 6 7441 光闌

4035 272 35991 抑制極

4035 272 35971  拔出極

1058129   拔出極

1301684  Suppressor 抑制極

1096659 Aperture 光闌

1346158  PT

環境掃描電鏡

Thermo Scientific Prisma E 掃描電鏡 (SEM) 結合了廣泛的成像和分析模式以及*自動化功能，和同類儀器相比，可提供最完整的解決方案。對于工業研發、質量控制和失效分析應用領域，需要一臺具有高分辨成像，廣泛的樣品兼容性，簡單易用的用戶界面的掃描電鏡，Prisma E是這類應用的理想選擇。Prisma E是在前代Quanta SEM基礎上的又一次成功實踐。

全面的性能，強大的附近擴展能力，以及結合Thermo Scientific ChemiSEM 技術所實現最直觀的元素分析能力，使Prisma E在任何行業或領域都能夠實現微米/亞微米級成像和分析。

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主要特點

觸手可及的元素信息

通過選配 ChemiSEM 技術和集成能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進行實時成分面分布以實現直觀元素分析。這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率，并獲取最完整的樣品信息。

出色的圖像質量

靈活的真空模式以及通過透鏡抽真空技術，使Prisma E可在低電壓和低真空下獲得出色的圖像質量。且在每個操作模式下，都可實現二級電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時成像。

最大限度地減少樣品制備時間

低真空和 ESEM 功能可對非導電和/或含水樣品進行無電荷/或無脫水成像和分析。

對自然狀態下的材料進行原位研究

憑借 Prisma E 的環境 (ESEM) 模式、可在樣品加熱、放氣或潮濕的狀態下直接成像。

優異的分析能力

倉室支持最多安裝3 個 EDS 探測器，其中兩個EDS接口呈180° 對稱，并可安裝波長色散光譜 (WDS)、共面 EDS/EBSD，并可在低真空模式下實現高質量無電荷 EDS 和 EBSD 分析。

易于使用

操作軟件具有用戶指南和撤消功能，可以使新手用戶進行高效的操作，也可極大減少專家級用戶的操作負荷。

規格