透射電鏡高傾角熱電原位系統(tǒng)
- 公司名稱 廈門超新芯科技有限公司
- 品牌 CHIPNOVA
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2023/12/27 10:03:14
- 訪問次數(shù) 1861
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適用電鏡 | Thermo?Fisher/FEI,?JEOL,?Hitachi |
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我們的優(yōu)勢
更多關(guān)鍵信息
傾轉(zhuǎn)角度≥±75°,通過一系列不同傾斜角可獲得更多二維成像信息。
優(yōu)異的電學(xué)性能
1.采用模擬校驗設(shè)計的芯片電極,電場分布均勻、電位穩(wěn)定,芯片表面的保護性涂層保證電學(xué)測量的低噪音和精確性,電流測量精度可達皮安級。
2.MEMS微加工特殊設(shè)計,在加熱過程中可同時進行電學(xué)試驗和表征,不影響溫度穩(wěn)定性。
優(yōu)異的熱學(xué)性能
1.高精密紅外測溫校正,微米級高分辨熱場測量及校準(zhǔn),確保溫度的準(zhǔn)確性。
2.四電極的超高頻控溫方式,排除導(dǎo)線和接觸電阻的影響,測量溫度和電學(xué)參數(shù)更精確。
3.采用高穩(wěn)定性貴金屬加熱絲(非陶瓷材料),既是熱導(dǎo)材料又是熱敏材料,其電阻與溫度有良好的線性關(guān)系,加熱區(qū)覆蓋整個觀測區(qū)域,升溫降溫速度快,熱場穩(wěn)定且均勻,穩(wěn)定狀態(tài)下溫度波動≤±0.01℃。
4.采用閉合回路高頻動態(tài)控制和反饋環(huán)境溫度的控溫方式,高頻反饋控制消除誤差,控溫精度±0.01 ℃。
5.多級復(fù)合加熱MEMS芯片設(shè)計,控制加熱過程熱擴散,極大抑制升溫過程的熱漂移,確保實驗的高效觀察。
6.加熱絲外部由氮化硅包覆,不與樣品發(fā)生反應(yīng),確保實驗的準(zhǔn)確性。
智能化軟件和自動化設(shè)備
1.人機分離,軟件遠程控制實驗條件,程序自動化控制傾轉(zhuǎn)角度。
2.自定義程序升溫曲線。可定義10步以上升溫程序、恒溫時間等,同時可手動控制目標(biāo)溫度及時間,在程序升溫過程中發(fā)現(xiàn)需要變溫及恒溫,可即時調(diào)整實驗方案,提升實驗效率。
3.內(nèi)置絕對溫標(biāo)校準(zhǔn)程序,每塊芯片的每次控溫都能根據(jù)電阻阻值變化,重新進行曲線擬合和校正,確保測量溫度精確性,保證高溫實驗的重現(xiàn)性及可靠性。
4.全流程配備精密自動化設(shè)備,協(xié)助人工操作,提高實驗效率。
技術(shù)參數(shù)
類別 | 項目 | 參數(shù) |
基本參數(shù) | 桿體材質(zhì) | 高強度鈦合金 |
電極數(shù) | 4 | |
視窗膜厚 | 無膜或20nm | |
漂移率 | <0.5 nm/min(穩(wěn)定狀態(tài)) | |
傾轉(zhuǎn)角 | α ≥ ±75°(實際范圍取決于極靴型號) | |
適用電鏡 | Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi | |
適用極靴 | ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP | |
(HR)TEM/STEM | 支持 | |
(HR)EDS/EELS/SAED | 升溫過程及高溫檢測支持 |
應(yīng)用案例
Ag2Te基熱電材料隨電壓變化情況
0.4v電壓Ag2Te基熱電材料高分辨
Ag2Te 基熱電材料由于能夠通過內(nèi)部載流子的運動實現(xiàn)電能和熱能之間的相互轉(zhuǎn)換;因此,在進行施加電壓實驗過程中會出現(xiàn)隨著電壓的增大,樣品自身溫度升高的現(xiàn)象;研究得知隨著電壓持續(xù)升高,樣品表面結(jié)構(gòu)變化明顯,紋路由不規(guī)則塊狀演變成條狀或消失。而且,通過降低電壓的過程,我們發(fā)現(xiàn)該材料升高或降低電壓時,表面結(jié)構(gòu)發(fā)生變化的過程是可逆的,表明該材料具有優(yōu)異的熱電性能和重復(fù)使用性能。