高分辨率平板探測(cè)器 X 射線 CMOS成像板

F2923-NDT 為二維 CMOS X 射線平板探測(cè)器，具有高分辨率、 低噪聲、大面陣、高幀率和寬動(dòng)態(tài)范圍等特點(diǎn)。綜合應(yīng)用派登斯的 CMOS 圖像傳感器設(shè)計(jì)技術(shù)及 ADC 集成一體化方案，產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊，技術(shù)性能優(yōu)良。基于其可靠性高、 易于集成等特點(diǎn)，可有效降低在苛刻環(huán)境中、重負(fù)荷應(yīng)用下 對(duì)成像系統(tǒng)的校準(zhǔn)和維護(hù)要求。

 CMOS平板探測(cè)器有三款可以選擇：F1512-NDT，    F2923-NDT，     F3035-NDT

產(chǎn)品特點(diǎn)

    ? 精細(xì)像素    ? 圖像延遲小                 ? ADC 集成一體化結(jié)構(gòu)    ? 快速的模式切換 

    ? 極低噪聲    ? 穩(wěn)定的數(shù)據(jù)偏移校正    ? 極寬動(dòng)態(tài)范圍               ? 低功耗 

    ? 高幀率       ? 快速的網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)接口    ? 抗輻照

產(chǎn)品應(yīng)用

    ? 無(wú)損檢測(cè)      ? 高等院校      ? 研究院所      ? 材料科學(xué)      ? 航空航天

高分辨率平板探測(cè)器 X 射線 CMOS成像板

上海玖橫儀器有限公司是一家由多名無(wú)損檢測(cè)技術(shù)銷售團(tuán)隊(duì)組織成立，專業(yè)從事無(wú)損檢測(cè)技術(shù)設(shè)備的研發(fā)、銷售及技術(shù)服務(wù)于一體的企業(yè)。主要產(chǎn)品有：電磁超聲高溫腐蝕檢測(cè)儀（高溫腐蝕儀）、電磁超聲探傷儀、超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀等檢測(cè)儀器；同時(shí)代理國(guó)內(nèi)國(guó)外超聲波成像系統(tǒng)（TOFD、相控陣、水浸 C 掃描）和射線成像系統(tǒng)（CR/DR/實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)）、汽車點(diǎn)焊分析儀、內(nèi)窺鏡檢測(cè)設(shè)備及自動(dòng)化檢測(cè)設(shè)備等。