電感耦合等離子體發射光譜儀

Avio™ 200 系統能處理難度最高的、未經稀釋的高基體樣品，為ICP 帶來全新的性能及靈活性。

而且，特別的硬件特性與業界最直觀易用的軟件相結合，使多元素測量變得與單元素分析一樣簡單。

作為市場上最小巧的 ICP，Avio 200 可通過以下性能，提供高效的操作、可靠的數據和較低的擁有成本：

• 所有 ICP 中較低的氬氣消耗

• 最快的 ICP 啟動（從關機狀態啟動，光譜儀在短短幾分鐘內即可準備就緒）

• 對所有適用的元素都具有出色的靈敏度與分辨率

• 具有雙向觀測技術的最寬線性范圍

性能可靠、功能強大、經濟實惠、Avio 200 具備您所尋求的 ICP所具有的一切。

較低的運行成本

借助獲得 Flat Plate™ (平板) 等離子體技術，Avio 僅需消耗其他系統一半的氬氣量，即可生成強健、耐基體的等離子體，同時賦予您：

• 所有 ICP 中較低的操作成本

• 無需再進行與傳統螺旋負載線圈有關的冷卻和維護，提供出色的運行時間和生產力

另外，為了提高效率，可令您從關機狀態啟動，在短短幾分鐘內即可進行分析，因而您大可在儀器不使用時隨意關掉。

強大的雙向觀測功能

與提供軸向和徑向觀測而犧牲性能的同步垂直雙向觀測 ICP 系統不同，Avio 200 系統獲得雙向觀測功能，可測量所有波長，不會造成光或靈敏度的損失。即使是波長大于 500 納米或低

于 200 納米的元素也可以測量，即便是在 ppb 的含量水平。該 Avio 系統特別的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態范圍，確保實現：

• 樣品制備和稀釋最小化

• 高、低濃度可以在同一運行中進行測量

• 更好的質量控制和更準確的結果

• 減少重復運行

集成等離子體觀測相機

可簡化您的開發方法，同時借助 Avio 200 系統的 PlasmaCam™技術，盡享遠程監控等離子體的便利。

可幫助您：

• 實時觀測等離子體

• 執行遠程診斷

• 查看進樣部件

革新性 PlasmaShear 系統，可實現無氬干擾消除

為了消除軸向觀測的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。沒有其他同類儀器能比 Avio 200 更有效、更可靠或更經濟。

其他 ICP 消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鐘的氬氣流量，Avio系統特別的 PlasmaShear™ 技術只需空氣即可。無需高維護、高提取系統或錐體。

CCD 檢測器，可實現準確度和精密度

借助全波長功能，Avio 200 系統的強大電荷耦合器件（CCD）檢測器能不斷提供正確的答案。

Avio 系統的 CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍，實時扣背景，實現出色的檢測精密度。在分析過程中，它還可以同時執行背景校正測量，進一步提高準確度和靈敏度。

帶有快速轉換炬管底座的垂直等離子體，可實現基體靈活性

即使 ICP 正在運行，Avio 200 系統的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調節，可提供更大的樣品靈活性并簡化維護。炬管底座的設計與眾不同，具有以下特點：

• 一個可拆卸的、獨立于炬管的中心管，旨在減少維護和破損的可能性

• 自動自對準，即使在拆卸后也能提供一致的深度設置

• 兼容各種霧化器和霧室，可提高靈活性

電感耦合等離子體發射光譜儀