EDX-T X射線熒光鍍層測厚儀
- 公司名稱 江蘇天瑞儀器股份有限公司
- 品牌 SKYRAY/天瑞儀器
- 型號 EDX-T
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/12/20 9:10:23
- 訪問次數 1312
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RoHS檢測儀;X熒光光譜儀;RoHS檢測設備;RoHS指令;貴金屬檢測;鍍層檢測;x射線熒光光譜儀;熒光光譜分析儀;rohs測試儀;rohs檢測儀器;XRF;Rohs;環保檢測儀;歐盟測試儀;
價格區間 | 面議 | 行業專用類型 | 通用 |
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儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領域 | 地礦,能源,電子 |
EDX-T X射線熒光鍍層測厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術,研發的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片自動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出高清廣角視野;自動化的X/Y/Z軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦精準分析。能更好地滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。
應用領域
分析超薄鍍層,如鍍層≤0.01um的Au,Pd,Rh,Pt等鍍層;
測量超小樣品,直徑≤0.1mm
印刷線路板上RoHS要求的痕量分析
合金材料的成分分析以及電鍍液分析
測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
EDX-T X射線熒光鍍層測厚儀設計亮點:
全新上照式設計,可適應更多異型微小樣品的測試。可變焦高精雙攝像頭,搭配距離補正系統,呈現全高清廣角視野,更好地滿足微小產品、臺階、深槽、沉孔樣品的測試需求。獨立的高精度伺服電機擴大XY平臺移動范圍,可多點編程、網格編程、矩陣編程,自動完成客戶多個產品及多個測試點的連續測量,大大提高測樣效率。自帶數據校正系統,保證測量數據的穩定性。