徠卡研究級手動型偏光顯微鏡Leica DM2700 P

如果您想要研究晶體結構，偏光顯微鏡將是您的選擇。無論是礦物和接合劑，我們的偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內容，完成您的研究或質量保證任務。

獲得優結果

您需要一些組件來實現偏光研究目標。以徠卡研究級偏光顯微鏡DM2700P都是重要的組件：

無應力光學部件，因為您需要確保觀測到的雙折射來自樣品而非光學部件

LED 照明至關重要，因為這種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫

偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉臺幫助您對準樣品和光軸

您還需要用于對光軸進行錐光觀察的勃氏鏡和用于測量任務的補償器

恰到好處的照明！

徠卡研究級偏光顯微鏡DM2700PLED 照明可在多個方面為您節省資金：它比鹵素照明消耗的能源少，而且無需更換，不會導致機器停機，使用壽命長達 25,000 小時。更多優勢：

LED 為樣品提供均勻照明，色溫恒定，為您提供真實的樣品形貌

LED 可快速調整光強，讓您的工作順暢無阻

LED 無需日光濾鏡，因為它已經提供了 4500 K 恒定光溫

LED 產生的熱量少，因此無需冷卻風扇

LED 可幫助您營造安靜無干擾的工作環境，因為沒有冷卻風扇在周圍產生噪音

讓物鏡轉盤來應對！

采用配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率的物鏡轉盤，獲取豐富的樣品信息。

使用 2.5 倍概覽物鏡可識別樣品中的宏觀結構

如要借助錐光法對光學屬性進行詳盡研究，可切換為 63 倍放大倍率

切換至 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗相反應

而且物鏡轉盤也是編碼的，可為您提供智能支持。

兩種照明物盡其用

您可以將 Leica DM4 P 配置為 LED 照明使用透射光或入射光，或者也可以一次性將其配置為使用兩種光源。

進行反射率測量時必須使用入射光，例如觀察礦石或煤炭。

進行雙折射測量時則需要使用透射光，例如檢測地質薄片、聚合物薄膜或藥品。

在地質研究等特殊應用中。

當顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時，相關物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應從 >10 倍的放大倍率開始使用。

研究光學屬性

錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關調查材料光學屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數量、光軸角度和光學特性。
Leica DM4 P 非常理想地適用于錐光法：

具有高放大倍率和高數值孔徑的無應力物鏡是該項應用的條件。

使用特殊 63 倍徠卡物鏡，能滿足偏振等級 5 的高要求，從而獲取優異結果。

靈活性：Leica DM2700 P

如果您不需要全自動化和高可再現性，Leica DM2700 P 就是您的儀器選擇。除自動化以外，它還能提供毫不遜色于 Leica DM4 P 的靈活性。

在 5 位可調中物鏡轉盤上使用 5 個物鏡獲取準確無誤的樣品信息

在 22-mm 視場中獲得大概覽圖

借助入射光觀測的 UC-3D 照明，獲得效果更佳的對比度

您的選擇：Leica DM2700 產品配置
堅固的支架和直觀的功能是成功完成日常普通和高級任務的關鍵。

高度模塊化

UC-3D 照明

彩色編碼的光圈輔助

5 位可調中物鏡轉盤

2 檔或 3 檔調焦驅動器

頂部調焦限位

LED 照明

錐光學模塊范圍廣泛

無應力光學部件

360° 旋轉臺，帶或不帶 45° 卡位裝置

偏光設備范圍廣泛

固定或可變補償器，符合 DIN 58879