| 應用領域 | 環保,化工,生物產業,能源 | 能量范圍 | 4.5-20keV |
|---|---|---|---|
| 能量分辨率 | 0.5-1.5eV(7-9keV,近邊) | X射線光源 | 1.2-1.6kW閉管 |
| 光通量 | 1,000,000-2,000,000photons/sec/eV@9keV | 單色器晶體 | 直徑100mm,球面半徑500mm(Si/Ge)) |
| 探測器 | SDD探測器 | 自動樣品輪 | 16工位 |
臺式X射線吸收譜儀，作為一種非破壞性的分析技術，具有高精度和高靈敏度的特點，近年來在材料科學、化學、生物學等領域得到了廣泛應用。
其核心原理在于利用X射線與物質之間的相互作用來揭示物質的內部結構和特性。當X射線穿過物質時，會與物質中的原子或分子發生相互作用，產生吸收、散射等現象。臺式X射線吸收譜儀通過精確測量不同能量下X射線的吸收情況，可以獲取關于物質中元素的種類、含量以及化學狀態等信息。
臺式x射線吸收譜儀利用常規X光源實現X射線吸收精細結構(XAFS)的光譜測量，對同步輻射等重大科技基礎設施及電子顯微鏡、X射線衍射儀等科學儀器具有很好的補充和拓展作用。
小型化桌面式系統，易于使用：
· 支持近邊快掃功能；
· 支持原位測試等擴展功能；
· 人體工學高度設計，操作更便捷；
· 內置實驗參數預置，實現快速測量；
· 不同樣品、不同測量模式一鍵自動切換；
· 遠程數據傳輸，實時顯示實驗進程和結果支持無人值守測試；
· 專業的應用技術支持和數據分析支持；
· 儀器具有輻射豁免資質和多重安全防護聯鎖，保證人身和使用安全。
XAFS專用彎晶：
· 不同晶面配置齊全，實現各個元素覆蓋；
· 預準直安裝，即插即用；
· 可根據需要元素定制特殊彎晶，達到最佳性能。
X射線吸收精細結構（XAFS）譜儀X射線吸收譜能量掃描機構：
· 聯動掃描機構；
· 實現光源、彎晶、樣品和探測器的精密聯動；
· 精度和分辨率高，穩定性好。
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