SpecMetrix® 高級實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測量系統(tǒng)

高級實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測量系統(tǒng)為樣品上的涂料和涂層提供非接觸式、非破壞性和實(shí)時(shí)厚度測量。

由SpecMetrix提供，工業(yè)物理旗下專業(yè)的涂層測試品牌，致力于創(chuàng)新的涂層厚度測量。

SpecMetrix®高級實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測量系統(tǒng)為用戶提供了高標(biāo)準(zhǔn)的非接觸、非破壞性和實(shí)時(shí)涂層及樣品涂層厚度測量。

簡化質(zhì)量控制流程

SpecMetrix®高級實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測量系統(tǒng)旨在簡化質(zhì)量控制流程。由于其強(qiáng)大能力，能夠以亞微米級精度識別和量化絕對薄涂層或?qū)雍穸龋俏覀兺扑]的實(shí)驗(yàn)室測量工具之一。

SpecMetrix高級實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)加速了離線樣品測試，并改善了來料和成品檢驗(yàn)。它是多個(gè)行業(yè)和應(yīng)用中受到質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室信賴的系統(tǒng)之一。

多功能測量能力

SpecMetrix®高級實(shí)驗(yàn)室涂層厚度測量系統(tǒng)是一個(gè)極其多功能的系統(tǒng)，允許用戶測量幾乎任何涂層或涂覆層。

· 濕涂層或干涂層

· 清晰、著色或有色涂層

· 適用于任何基材的涂層，幾乎適合任何行業(yè)，包括柔性包裝、汽車和工業(yè)

· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時(shí)測量單層或雙層涂層，或亞微米級的離散層

· 模塊化設(shè)計(jì)，具有從質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)車間的即時(shí)測量能力

高精度、即時(shí)測量

SpecMetrix®高級實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)在單點(diǎn)和掃描模式下提供高精度的非接觸樣品測試。它提供超精確和實(shí)時(shí)的涂層及層厚度測量，以幫助加速樣品測試、數(shù)據(jù)收集和質(zhì)量分析。

完整的涂層洞察

憑借SpecMetrix精確和創(chuàng)新的ROI增強(qiáng)光學(xué)干涉技術(shù)，用戶可以獲得樣品的完整涂層測量數(shù)據(jù)。我們的技術(shù)將允許您通過非接觸和非破壞性手段獲得涂層測量。

該技術(shù)也很安全——無放射性和無侵入性。我們的光學(xué)技術(shù)高度先進(jìn)，并在整個(gè)涂層行業(yè)中得到廣泛應(yīng)用。

強(qiáng)大的SensorMetric軟件

作為測量分析的核心部分，我們用戶友好的軟件包將所有測量數(shù)據(jù)存儲到Excel®中，或與工廠網(wǎng)絡(luò)接口，以便在生產(chǎn)運(yùn)行期間或之后進(jìn)行SPC分析。

此外，我們的軟件還包括一個(gè)配方助手，幫助操作員創(chuàng)建新的涂層配方并編輯現(xiàn)有配方。

可選的系統(tǒng)配置

請與我們的專家團(tuán)隊(duì)討論您的配置要求。我們可以建議優(yōu)化您實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線需求的最佳系統(tǒng)。無論是離線、周期性在線還是全在線系統(tǒng)——我們都可以提供適合您需求的測量系統(tǒng)。

功能和優(yōu)點(diǎn)

· 靈活快速 – 模塊化設(shè)計(jì)，具有從質(zhì)量控制實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)車間的即時(shí)測量能力。

· 非接觸式 – 測量過程不接觸涂層或基材，保持樣品和部件的完整性。

· 絕對厚度測量 – 超高精度的實(shí)時(shí)涂層和層厚度測量，加速樣品測試、數(shù)據(jù)收集和質(zhì)量分析。

· 基材獨(dú)立 – 適用于透明、有色或著色基材的濕樣或干樣測量。

· 廣泛應(yīng)用 – 實(shí)時(shí)測量單層或雙層涂層，或亞微米級的離散層。

· 無危害性 – 采用非放射性和非侵入性的ROI和EXR光學(xué)技術(shù)。

· 環(huán)保 – 非破壞性測試方法減少廢料、返工勞動力和能源成本。

· 強(qiáng)大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包自動將所有數(shù)據(jù)存儲到Excel®或工廠網(wǎng)絡(luò)中。

規(guī)格

應(yīng)用： 光學(xué)測試, 油墨與涂料, 涂層檢測, 涂層測試

材料： 油墨和涂料

測量范圍:   0.2至250微米（涂層厚度）

精度:   涂層厚度的±1%（標(biāo)稱值）* 基于使用NIST可追蹤的厚度標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的整個(gè)測量范圍（0.2至250微米）精度驗(yàn)證

系統(tǒng)速度:   每個(gè)容器1-2分鐘，具體取決于工廠選擇的測量參數(shù)

測量速度:   每秒最多100次

溫度范圍:   0°至45°C

輸出指標(biāo):   微米、密耳、mg/in2、mg/4in2、g/m2、mg/cm2、lbs/令

操作系統(tǒng):   Windows®平臺

制造:   美國制造

認(rèn)證:   CE認(rèn)證、UL認(rèn)證和CSA認(rèn)證