增駿XAD-200膜厚儀 X射線熒光測厚儀介紹：

增駿XAD-200膜厚儀 X射線熒光測厚儀是一款全元素上照式熒光光譜儀，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足RoHS有害元素檢測及成分分析，搭載全自動平臺實現XYZ軸編程位移，實現無人值守多點測量，測量軟件置入先進的EFP算法及解譜技術，解決了諸多業界難題。被廣泛用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

增駿XAD-200膜厚儀/臘厚分析儀器產品特點：

核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準檢測第一層Ni和第三層Ni的厚度）

 配備全自動可編程移動平臺，可實現無人值守，對成百上千個樣品進行全自動檢測

 涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）

 成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）

 RoHS、鹵素有害元素檢測

 人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

 標配四準直器自動切換

 配有微光聚集技術，最近測距光斑擴散度小于10%