U-SMPS 1700 通用掃描遷移率粒度儀
- 公司名稱 靈柯精密儀器(山東)有限公司
- 品牌 Palas/帕剌斯
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/12/20 10:16:31
- 訪問次數 51
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 綜合 |
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U-SMPS 1700 通用掃描遷移率粒度儀,適合2-400 nm的高濃度應用
• 2至400 nm粒徑分布
• 連續和快速掃描的測量原理
• 高分辨率,最多128個分類器/衰減
• 適用于高達108顆粒/立方厘米的濃度
• 通用連接其他制造商的DMA和納米粒子計數器
• 圖形顯示測量值
• 直觀操作,使用7英寸觸摸屏和GUI
• 集成數據記錄儀
• 支持多種接口和遠程訪問
• 低維護
• 功能可靠
• 減少您的運營費用
適用于高氣溶膠濃度的Palas®通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)有兩種版本。 U-SMPS帶有短分類柱(1700型),特別適合2-400 nm范圍內的高精度粒度分布測量。Palas®U-SMPS系統包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器(DEMC),也稱為差動遷移率分析儀(DMA)],根據氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后,在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。
氣溶膠靜電計的一個主要優點是可以進行非常快速的測量。但是,這種方法需要很高的成本。因此,其適用性被限制于高氣溶膠濃度(例如,燃燒過程或顆粒發生器的下游)。可以通過物理參數直接追溯每時間單位(流量)的電荷測量值。其結果是,此方法主要用作凝結粒子計數器(例如UF-CPC)校準期間的參考。
U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作。可以在短短30秒內執行單粒子分布掃描,或者最多在128個尺寸通道中執行掃描,在此期間,DEMC分類器中的電壓連續變化,從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上線性和對數顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估(豐富的統計和平均值計算)和導出功能。
U-SMPS通常作為獨立設備運行,但也可以使用各種接口(USB,LAN,WLAN,RS-232 / 485)連接到計算機或網絡。 Palas®U-SMPS普遍支持其他制造商的DMA,CPC和氣溶膠靜電計。
U-SMPS的準確尺寸測定和可靠性能尤其重要,特別是對于校準。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試,并在內部組裝。
圖1展示U-SMPS 1700 通用掃描遷移率粒度儀的工作原理:
圖1:使用氣溶膠靜電計作為濃度測量裝置的通用掃描遷移率粒度儀(U-SMPS)的工作原理
氣溶膠在進入分類器(DEMC列)之前經過調節。可選的干燥器(例如硅膠,Nafion)可以去除顆粒中的水分。使用雙極中和劑(例如Kr 85)來確保測定的氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類器尺寸范圍的顆粒,需要在DEMC的入口處使用撞擊器。
然后,氣溶膠通過入口導入DEMC色譜柱。沿著外部電極的氣溶膠流在此與護套氣流仔細合并。重要的是在此處避免任何湍流,以確保層流。電極的表面在光滑度和公差方面必須具有高的質量。
鞘空氣是干燥、無顆粒的載氣(通常是空氣),其體積大于連續在閉環中循環的氣溶膠體積。鞘空氣與樣品空氣的體積比決定傳遞函數,因此決定DEMC的分離能力。通過施加電壓,在內外電極之間會產生一個徑向對稱的電場。內電極在末端帶有小縫隙,帶正電。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力,帶負電的粒子被轉移到正電極。根據它們的電遷移率,一些顆粒會穿過狹縫并離開DEMC。
在工作中,電壓和電場因此而連續變化。結果,具有變化遷移率的顆粒會離開DEMC,并且由納米顆粒計數器 – 在此顯示為氣溶膠靜電計(例如Palas®Charme®)連續測量-。
為了組合數據(電壓、電荷數、電荷分布等)并獲得粒度分布,必須進行逆變換。為此,使用的算法是由IfT(德國萊比錫)的Wiedensohler教授開發的算法。
圖2:在觸摸屏顯示Palas®DNP 3000顆粒發生器產生的氣溶膠粒徑分布
用戶界面和軟件
基于持續的客戶反饋,我們設計了良好的用戶界面和軟件,以實現直觀的操作、實時控制并顯示測量數據和參數。
此外,軟件還通過集成的數據記錄器、完善的導出功能和網絡支持為數據管理提供支持。測量數據可以顯示和評估。
可用系統
圖3顯示Palas®可提供的DEMC和Charme®氣溶膠靜電計的兩種組合。 對于DEMC分類器與Palas®冷凝粒子計數器的組合,請閱讀“U-SMPS 1xx0_2xx0_V0011212”規格參數表。 其他制造商提供的大多數DMA、CPC和氣溶膠靜電計都可以用作U-SMPS系統的組件。
圖3:用于高濃度顆粒測量的Palas®U-SMPS系統概述
技術參數