半導體框架銅鍍錫膜厚測量儀X-RAY測厚儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 深圳市精誠儀器儀表有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/12/23 12:49:29
- 訪問次數(shù) 67
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| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子,汽車 |
半導體框架銅鍍錫膜厚測量儀X-RAY測厚儀
銅上鍍錫:
測量范圍:0.3-50um
韓國MicroP XRF-2020測厚儀規(guī)格如下圖
xrf-2020l測厚儀韓國微先鋒膜厚儀
可測
單鍍層,雙多鍍層,多鍍層及合金鍍層
鍍銀測量范圍0.1-50um
鍍鎳測量范圍0.5-30um
鍍銅測量范圍0.5-30um
鍍錫測量范圍0.5-50um
鍍金測量范圍0.02-6um
鍍鋅測量范圍1-30um
鋅鎳合金測量范圍1-25um
鍍鉻測量范圍0.5-25um
儀器全自動臺面,自動雷射對焦,多點自動測量
多個準直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03×0.5mm
可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
韓國先鋒XRF-2020L型H型
MicropXRF-2000,XRF-2020
功能特點:
全自動臺面，自動雷射對焦，多點自動測量
儀器全系均為全自動臺，自動雷射對焦！
多點自動測量
X射線測厚儀韓國微先鋒XRF-2020膜厚儀可配多個或單個準直器,準直器大小可自動切換
電鍍測厚儀X-RAY膜厚儀XRF-2020快速無損測量電鍍層厚度，可測單鍍層，雙鍍層，多層鍍層及合金鍍層
半導體框架銅鍍錫膜厚測量儀X-RAY測厚儀
量測范圍:0.3-50um
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