ELITE 系統 賽默飛（原FEI）鎖相紅外熱成像系統
- 公司名稱 賽默飛世爾科技（中國）有限公司
- 品牌 FEI/賽默飛
- 型號 ELITE 系統
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/1/3 13:34:54
- 訪問次數 30
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欲了解更多信息，請瀏覽公司網站：www.thermofisher.com 賽默飛世爾科技中國簡介賽默飛世爾科技進入中國發展已超過35年，在中國的總部設于上海，并在北京、廣州、香港、成都、沈陽、西安、南京、武漢、昆明等地設立了分公司，員工人數約為5000名。我們的產品主要包括分析儀器、實驗室設備、試劑、耗材和軟件等，提供實驗室綜合解決方案，為各行各業的客戶服務。為了滿足中國市場的需求，現有7家工廠分別在上海、北京、蘇州和廣州等地運營。我們在全國還設立了8個應用開發中心以及示范實驗室，將世界級的前沿技術和產品帶給中國客戶，并提供應用開發與培訓等多項服務；擁位于上海的中國創新中心，擁有有100多位專業研究人員和工程師及70多項專利。創新中心專注于針對垂直市場的產品研究和開發，結合中國市場的需求和國外先進技術，研發適合中國的技術和產品；我們擁有遍布全國的維修服務網點和特別成立的中國技術培訓團隊，在全國有超過2600名專業人員直接為客戶提供服務。我們致力于幫助客戶使世界更健康、更清潔、更安全。
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科學儀器
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 場發射 | 應用領域 | 化工 |
隨著“超越摩爾定律”技術的普及，封裝和組裝相關缺陷變得越來越難以識別。互連更加精細、更加復雜；芯片和封裝被堆疊并平鋪為復雜結構。焊點間距更小，而基板則采用更高的圖案密度和嵌入式組件。缺陷在不斷增加，缺陷檢測則變得更加困難。
通過使用具有最高靈敏度的高分辨率鎖相熱成像 (LIT)，Thermo Scientific™ ELITE™ 鎖相紅外熱成像系統系統為各種缺陷類型的通孔封裝缺陷、片上缺陷甚至板載電氣缺陷的定位提供了一套重要解決方案，這些缺陷包括電源或線路短路、ESD 缺陷、電流泄漏、氧化傷害、缺陷晶體管和二極管、器件閂鎖以及電阻性開路。
ELITE 是第一款可為二維和三維器件提供動態無損實時 LIT 的集成系統。ELITE 系統的設計采用專有的高靈敏度 InSb 攝像頭、定制光學器件和高級算法，具有出眾的性能，并可以在最短時間內獲得結果，通過為失效分析工程師提供根本原因分析所需的關鍵信息，有效縮短分析學習的周期。
另外，由于具有所有無損技術中最高的熱靈敏度，Thermo Scientific™ ELITE™ 鎖相紅外熱成像系統系統能夠檢測具挑戰性的缺陷，無需開封檢查或從封裝中取出芯片，甚至無需對 IC 器件進行剝層，因而消除了使用有損方法時意外遺漏故障的風險。
此外，ELITE 系統可與其他無損技術（例如掃描聲學顯微鏡 (SAM) 或二維和三維 X 射線技術）相結合，通過傳遞故障位置的精確 x、 y 和 z 坐標，加快獲得結果的速度并提高成功率，從而在需要深度信息或存在微小特征時顯著縮小 X 射線和 SAM 的搜索半徑并縮短檢查時間。ELITE 系統還提供配備固體浸沒透鏡 (SIL) 和 S-LSM 選項的高分辨率光學器件，可實現很高水平的分辨率和圖像質量。
主要優勢：
無損，無需開封檢查，無需逆向處理，沒有遺漏或損害缺陷證據的風險
快速識別 精確定位集成電路板上的缺陷元件
定位缺陷在x-y方向有微米精度，深度定位精度 20 μm
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