島津企業(yè)管理（中國(guó)）有限公司
島津電子探針測(cè)試界面高溫超導(dǎo)材料的方法研究
檢測(cè)樣品：超導(dǎo)材料
檢測(cè)項(xiàng)目：方法研究
方案概述：本文以多層復(fù)合膜Sb-BaTiO,界面高溫超導(dǎo)材料為例，梳理了測(cè)試流程。對(duì)于干擾譜線的確認(rèn)和扣減問題進(jìn)行了方法說(shuō)明，探討了基體修正ZAF方法的選擇，以期獲得更為理想的測(cè)試結(jié)果。
利用薄膜生長(zhǎng)法獲得的界面高溫超導(dǎo)材料是超導(dǎo)領(lǐng)域的一個(gè)重要研究方向。由于電子探針定量測(cè)試基體修正模型中首先假設(shè)電子束與試樣交互作用區(qū)域的均質(zhì)性，這種界面高溫超導(dǎo)材料的層狀膜結(jié)構(gòu)給電子探針的定量測(cè)試帶來(lái)一定的問題。本文以多層復(fù)合膜Sb-BaTiO,界面高溫超導(dǎo)材料為例，梳理了測(cè)試流程。對(duì)于干擾譜線的確認(rèn)和扣減問題進(jìn)行了方法說(shuō)明，探討了基體修正ZAF方法的選擇，以期獲得更為理想的測(cè)試結(jié)果。
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