三高SANKO電磁式測厚儀SM-1500D|測厚儀SM-1500D
測量原理　　采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的

大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。

　　磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐涂層。

編輯本段電渦流測量原理

　　高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類測頭專門測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

　　采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適

　　簡單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質中的元素信息（物質構成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質中的結晶信息。

　　具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽（氯化鈉=NaCl）時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質由鈉（Na）和氯（Cl）構成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質由氯化鈉（NaCl）的結晶構成。單純地看也許會認為能知道結晶狀態的X射線衍射裝置（XRD為好,但當測定含多種化合物的物質時只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進行定性。

編輯本段螢光X射線裝置（XRF）

　　X射線的能量穿過金屬鍍層的同時，金屬元素其電子會反射其穩定的能量波譜。通過這樣的原理，我們設計出：

膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀，又稱金屬涂鍍層厚度測量儀，其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應環保工藝準則，故目前市場上zui普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。

　　在此技術方面廣大業界*認同日本精工膜厚測量儀比較，因其為**臺膜厚測量儀的生產商。

　　具體介紹為：進口日本精工（SFT9100M）X-RAY熒光無損金屬薄膜電鍍層厚度測量儀

　　SFT9100M是精工膜厚儀系列中經濟實用又功能齊全的機型

　　用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費

　　技術參數：

　　可測元素：Ti～U

　　X射線管：管電壓45KV，管電流1mA

　　檢測器：比例計數管

　　樣品觀察：CCD攝像機

　　對焦方式：激光自動對焦

　　準直器：2個（0.1mm，0.025*0.3mm）

　　安全機能：測量室門自鎖功能

　　Z軸防沖撞功能

　　儀器自診斷功能

　　主要特點

　　★ 自動對焦功能 。配備激光自動對焦功能，能夠準確對焦，提高測量效率。

　　★ 具有焦點距離切換功能，適用于有凹凸的機械部件與電路板的底部進行測量

　　止在對焦時造成的損壞。

　　★ 選用Mo靶材X射線管，測量貴金屬更靈敏。

　　★ 支持多種語言的軟件系統。簡體中文、繁體中文、英語、日語、韓語

　　★ 搭載樣品尺寸的兼容性

　　可適用于各種樣品，能夠通過一臺儀器測量，從電子部件、電路板到機械部件等高度較高的樣品，從較厚

　　的樣品（機械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等

　　★ 鹵素燈照明

　　★ 即時生成測量報告的便捷性 。運用搭載的Microsoft Word? Excel? 可以簡單輕松得到制作報告

　　★ 多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正

　　進口日本精工（SFT9200）X-RAY熒光無損金屬薄膜電鍍層厚度測量儀

　　SFT9200是精工膜厚儀系列中普及型

　　用途：檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費

　　「SFT9200系列」繼承了擁有了20多年歷史及光輝業績的「SFT系列」（操作性與可靠性共存）的優點，并不斷地發展，成為可對應較廣應用范圍的X射線熒光鍍層厚度測量儀[新標準機型]。

　　產品副名稱：應用范圍較廣的標準型鍍層厚度測量儀

　　技術參數：

　　儀器的特長：廣泛應用型

　　可測元素：Ti～U

　　X射線管：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（W靶）管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗

　　濾波器：

　　一次濾波器：A1-自動切換

　　二次濾波器：Co-自動切換

　　檢測器：比例計數管

　　對焦方式：激光自動對焦

　　測定軟件：薄膜FP法、檢量線法

　　5個準直器可自動切換

　　型（Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm）

　　型（0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm）

　　Z軸防沖撞功能

　　儀器自診斷功能

　　儀器介紹：

　　SFT系列中標準型儀器

　　濾波器

　　另有SFT9250、SFT9255兩種機型

　　標準配備有Windows2000中文操作界面

　　采用檢量線法和FP法，測量數據與Word和Excel鏈接

　　自動生成報告和數據處理

　　工作臺3維電動，可編程進行自動測量

　　采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器

　　可防止在對焦時造成儀器的損壞。

　　產品特點：

　　能夠測量無鉛焊錫

　　配備了薄膜FP法，可以同時測量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無鉛焊錫的鍍層后與成份

　　搭載中心搜索軟件

　　通過掃描樣品可以自動檢測出線及基板點面部分的測量中心位置。

　　擁有防沖功能

　　搭載激光對焦系統

　　搭載測試報告自動生成軟件

　　搭載了薄膜FP法軟件

　　X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。可視光線的波長為0.000001 m （1μm）左右,X射線比其短為0.000000000001 m至0.00000001 m （0.01- 100 ?）左右。

　　對某物質進行X射線照射時,可以觀測到主要以下3種X射線。

　　（1） 螢光X射線

　　（2） 散亂X射線

　　（3） 透過X射線

　　SII的產品是利用螢光X射線得到物質中的元素信息（組成和鍍層厚度）的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質的結晶信息（構造）。而透過X射線多用于拍攝醫學透視照片。另外也用于機場的貨物檢查。象這樣根據想得到的物質信息而定X射線的種類。

　　簡單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質中的元素信息（物質構成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質中的結晶信息。