1.將激磁次數(shù)降至Z少,以提高生產(chǎn)效率
2.確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度
3.平衡多向磁場(chǎng)
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參考價(jià) | ¥890 |
訂貨量 | 1 |
更新時(shí)間:2017-07-12 13:51:43瀏覽次數(shù):2130
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I試片
定量品質(zhì)試片
(I)是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片,I試片用于
1.將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率
2.確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度
3.平衡多向磁場(chǎng)
a)標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷呈基圓和十字交叉條形,適用于縱向和周向磁場(chǎng)
件號(hào):519630 型號(hào):KSC-230
件號(hào):521048 型號(hào):KSC-430
說(shuō)明:
標(biāo)準(zhǔn)I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸標(biāo)準(zhǔn)I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.004英寸
b)小型I試片
與KSC-230相似,于工件上的小區(qū)域,每片四個(gè)圓,可切割開,單獨(dú)使用
件號(hào):519631
型號(hào):KSC-4-230
說(shuō)明:小型I試片,每片試片有4個(gè)基圓,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸
c)不同深度的I試片
用于定量要求更高的作業(yè),缺陷呈三個(gè)不同深度的同心圓環(huán)
件號(hào):519632 型號(hào):KSCT-234
說(shuō)明:不同深度I試片,缺陷深度分別為試片厚度的20%,30%,40%,試片厚度為0.002英寸,試片背面帶膠,可直接貼在工件上
件號(hào):521049 型號(hào):KSC4-234
不同深度I試片,缺陷深度分別為試片厚度的20%,30%,40%試片厚度為0.004英寸