產(chǎn)品分類品牌分類
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超聲波探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 著色滲透探傷劑/顯像劑/滲透劑/清洗劑 磁粉檢測(cè)試塊/磁粉探傷試塊 磁粉探傷耗材 多用磁粉探傷儀 移動(dòng)式磁粉探傷儀 磁粉磁軛探傷儀/磁探儀 X射線報(bào)警儀/個(gè)人計(jì)量儀 暗室紅燈/三色燈/警告燈 超聲波探傷儀/測(cè)厚儀 退磁機(jī)/線圈退磁器 冷熱觀片燈/工業(yè)評(píng)片燈 強(qiáng)度計(jì)/特斯拉計(jì)/高斯計(jì) 數(shù)顯黑白密度計(jì)/密度片 超聲波探傷耗材 射線探傷耗材 磁粉、磁膏、磁懸液 熒光探傷燈 高強(qiáng)度紫外線燈 紫外線黑光燈/LED黑光燈/熒光探傷燈 工業(yè)X光膠片 JB行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 GB國家標(biāo)準(zhǔn)試塊 焊縫自然缺陷試塊 CSK-IA超聲波試塊 超聲波檢測(cè)試塊 *標(biāo)準(zhǔn)試塊與其他*標(biāo)準(zhǔn)試塊 工業(yè)恒溫洗片機(jī)、干片機(jī) 進(jìn)口 超聲波耦合劑 其它
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
TAM試片
4英寸×6英寸的不銹鋼試片,可同時(shí)檢測(cè)滲透工藝的靈敏度和水洗性。
該試片一面為粗糙面,用于檢測(cè)水洗性,另一面為5個(gè)星型缺陷的鍍鉻拋光區(qū)。星型缺陷從粗大到極細(xì)小順序排列,用于檢測(cè)靈敏度。
Pratt和Whitney TAM
件號(hào):198055,
配件號(hào):146040
美國磁通TAM試片
美國磁通5點(diǎn)試片TAM146040-----市場(chǎng)價(jià)12000元
美國磁通TAM試片是滲透檢測(cè)試塊,為4英寸X6英寸的不銹鋼試片,可同時(shí)檢測(cè)滲透工藝的靈敏度和水洗性。
美國磁通TAM試片一邊為粗糙表面用于檢測(cè)水洗性,另一邊為含有5個(gè)星型缺陷的鍍鉻拋光區(qū),星型缺陷從粗大到極細(xì)小順序排列,用于檢測(cè)靈敏度。
美國磁通TAM試片符合GJB2367A和ASTM E 1417等國外主要工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求。