產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
硅片缺陷觀測儀 | |||
型號 | SY.29-WDI | ||
圖片 | |||
簡介 | 硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進(jìn)行觀察,效果非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。 實(shí)時對圖像進(jìn)行分析、測量和統(tǒng)計(jì),提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲設(shè)備,能更好的觀測和保存研究結(jié)果; 硅片缺陷觀測儀-產(chǎn)品特點(diǎn) ■ 適用于對硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等; ■ 使硅片缺陷觀察工作簡單化,準(zhǔn)確化,同時*程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度; ■ 實(shí)時對圖像進(jìn)行分析、測量和統(tǒng)計(jì),提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲設(shè)備,能更好的觀測和保存研究結(jié)果; ■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有體積小,技術(shù)*,像素較高, 成像清晰 、線條細(xì)膩、色彩豐富; ■ 傳輸接口為 USB2.0 高速接口, 軟件模塊化設(shè)計(jì) ; ■ 有效分辨率為 200 萬像素; ■ 所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。 |