近紅外光譜分析儀主要是由于分子振動的非諧振性使分子振動從基態向高能級躍遷時產生的,記錄的主要是含氫基團X-H(X=C、N、O)振動的倍頻和合頻吸收。不同團或同一基團在不同化學環境中的近紅外吸收波長與強度都有明顯差別,光譜具有豐富的結構和組成信息,非常適合用于碳氫有機物質的組成與性質測量。
近紅外光譜分析儀波長、吸光度的準確性和重現性說明:
波長準確性
光譜儀器波長準確性是指儀器測定標準物質某一譜峰的波長與該譜峰的標定波長之差。波長的準確性對保證近紅外光譜儀器間的模型傳遞非常重要。為了保證儀器間校正模型的有效傳遞,波長的準確性在短波近紅外范圍要求好于0.5nm,長波近紅外范圍好于1.5nm。
波長重現性
波長的重現性指對樣品進行多次掃描,譜峰位置間的差異,通常用多次測量某一譜峰位置所得波長或波數的標準偏差表示(傅立葉變換的近紅外光譜儀器習慣用波數cm-1表示)。波長重現性是體現儀器穩定性的一個重要指標,對校正模型的建立和模型的傳遞均有較大的影響,同樣也會影響最終分析結果的準確性。一般儀器波長的重現性應好于0.1nm。
吸光度準確性
吸光度準確性是指儀器對某標準物質進行透射或漫反射測量,測量的吸光度值與該物質標定值之差。對那些直接用吸光度值進行定量的近紅外方法,吸光度的準確性直接影響測定結果的準確性。
吸光度重現性
吸光度重現性指在同一背景下對同一樣品進行多次掃描,各掃描點下不同次測量吸光度之間的差異。通常用多次測量某一譜峰位置所得吸光度的標準偏差表示。吸光度重現性對近紅外檢測來說是一個很重要的指標,它直接影響模型建立的效果和測量的準確性。一般吸光度重現性應在0.001~0.0004A之間。