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全自動校準技術（FACT） - 溫度漂移觸發的天平自動內校，內置兩組砝碼實現線性誤差校準，確保稱量結果的準確性
產品簡介
詳細介紹
名稱：專業型分析天平（梅特勒-托利多）
型號：XS205DU
儀器資料：
XS分析天平
采用高精度、高分辨率后置式傳感器，獲得準確稱量結果
全自動校準技術（FACT） - 溫度漂移觸發的天平自動內校，內置兩組砝碼實現線性誤差校準，確保稱量結果的準確性
變量程設計（DeltaRange）和雙量程（DualRange）設計，滿足客戶對不同樣品的稱量需求
革命性的網格稱量盤（SmartGrid）、懸浮在稱量室中的后掛稱量設計，獲得快速、穩定的稱量結果
易巧稱量組件（ErgoClips），方便客戶使用不同去皮容器進行稱量
觸摸屏技術（Touch screen），方便天平稱量菜單和參數設置
可移動的顯示控制終端，方便天平使用
*可拆卸的防風罩設計，實現天平的快速清潔
內置RS232通訊接口，方便連接打印機、電腦等外圍設備
優化天平適應性的稱量參數設置，滿足不同稱量環境要求
具有簡單稱量、統計稱量、公式稱量、密度測定等內置應用程序
e-Loader II軟件，實現更便捷的天平軟件更新
專業型分析天平XS205DU技術規格
量程 雙量程
可讀性 0.01/0.1mg
zui大稱量值 81/220g
zui大稱量值重復性（s） 0.1mg
10g重復性（s） 0.02mg
線性 ±0.2mg
1/2zui大稱量1）四角誤差 0.3mg
靈敏度漂移 0.0004%
靈敏度溫度漂移2） 0.00015%/℃
靈敏度穩定性3） 0.0002%/a
典型稱量時間4） 6s
接口更新速率 23/s
防風罩有效高度（mm） 235
秤盤尺寸（mm） 78×73
天平外形尺寸（W×D×H）（mm） 263×453×322
1）按照OIML76標準 2）溫度范圍10 …30℃ 3）靈敏度漂洗/年（天平*使用后），激活FACT全自動校準技術 4）包括樣品處理時間設置