近場光學(xué)是德國neaspec公司推出的全新一代散射式進(jìn)場光學(xué)顯微鏡（簡稱s-SNOM），加載了全新技術(shù)，拓展了產(chǎn)品功能，以滿足客戶多樣的實(shí)驗(yàn)需求。基于散射式核心設(shè)計(jì)技術(shù)，neaSCOPE在很大程度上提高了光學(xué)分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi)，提供高于10 nm空間分辨率的光譜和近場光學(xué)圖像。同時支持s-SNOM功能與納米紅外（FTIR）、針尖增強(qiáng)拉曼（TERS）、超快光譜（Ultrafast）和太赫茲光譜（THz）進(jìn)行聯(lián)用，實(shí)現(xiàn)高分辨光譜和成像。由于其高度的可靠性和可重復(fù)性，neaSCOPE已成為納米光學(xué)領(lǐng)域熱點(diǎn)研究方向的科研設(shè)備，在等離子激元、二維材料聲子化、半導(dǎo)體載流子濃度分布、生物材料紅外表征、電子激發(fā)及衰減過程等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。

設(shè)備點(diǎn)：

	行業(yè)的針尖增強(qiáng)技術(shù)，高質(zhì)量的納米分析實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。
	功能多樣、可靠性高，已得到大量發(fā)表文章的印證，在納米光學(xué)領(lǐng)域有很深的影響力，是國內(nèi)外實(shí)驗(yàn)室的優(yōu)先選擇。
	軟件使用方便，提供交互式用戶引導(dǎo)功能，新用戶也能快速上手。流程化的軟件界面，逐步引導(dǎo)用戶輕松完成實(shí)驗(yàn)操作。
	采用模塊化設(shè)計(jì)，針對用戶的實(shí)驗(yàn)需求量身定制配置，同時兼顧未來的升需求，無需重復(fù)購置主機(jī)。

s-SNOM基本原理：

   照明的顆粒會在其周圍形成增強(qiáng)的光場，而這個近場會被其附近的樣品改變，這種近場互相作用會導(dǎo)致在遠(yuǎn)場接受到的散射光帶有樣品局部的光學(xué)性質(zhì)。當(dāng)激光（可見，紅外、太赫茲）聚焦到標(biāo)準(zhǔn)金屬涂層AFM針尖上時，會在針尖頂點(diǎn)形成比激發(fā)波長小幾千倍，尺寸只由針尖曲率半徑?jīng)Q定的納米焦點(diǎn)。這個納米焦點(diǎn)用來局部探測樣品，通過記錄探針掃描樣品過程中的散射光可以獲得近場光學(xué)成像。

設(shè)備型號：所有產(chǎn)品都包含支持紅外、太赫茲和可見光波長范圍的納米尺度成像和光譜的定制AFM