TEM-STEM-ED-SEM 四種成像模式 TEM模式 LVEM5是上*的臺式透射電子顯微鏡,同時也是*的低加速電壓(5kV)透射電鏡。同傳統透射電鏡(80-200kV)相比,增加了電子束與樣品的相互作用,從而提高了圖像對比度 ? 提高了圖像對比度 ? 無需重金屬染色即可觀察輕元素樣品(如生物樣品) ? 避免染色造成的假象,觀察樣品真實結構 分辨率2nm,放大倍數 5000-202,000x,圖像采集:2048 x 2048 SEM模式 掃描電鏡(SEM)模式可用于觀察任意固體樣品。在SEM模式下,LVEM5采用4分割背散射探測器,提供多個觀測角度。 普通掃描電鏡在觀察不導電樣品時,需要對樣品進行噴金、噴碳處理,以增加樣品導電性。LVEM5的另點在于,無需噴金可直接觀測不導電樣品。 分辨率3nm,放大倍數 640x - 1,000,000x,圖像采集:2048 x 2048 STEM模式 在掃描透射電子顯微(STEM)模式下,電子束被聚焦到很小直徑,在樣品上進行掃描。可用于觀察厚度較厚的樣品或染色樣品 ED模式 電子衍射(ED)可用于確定樣品的晶體結構、結晶度、相組成. |