相關術語

1.精密度

定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度就是重現性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關的，測量的時間越長，則精度越高。

2.重復性

定義為儀器測同一款樣品的連續測試十一次或二十一次的相對標準偏差。

3.準確度

定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準確度也一定差。反之，準確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準確度都要求高。

4.目

顆粒度大小的直徑，200目=74um5. 誤差

X射線熒光光譜分析儀的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統計漲落引起的誤差作為測量的誤差。

6.檢出限（Limit of detection）

獲得背景強度標準偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量，就稱為檢出限（或叫檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測定檢出*，一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。

7.計數統計誤差    

 在放射性物質的測量中，假設儀器穩定性、機械在現性可確保，由儀器機械產生的誤差可以忽略不計，但計數統計誤差還是不能消除。X射線強度是把入射到計數器上的光子變成脈沖后計數而得到的。因而計數值在本質上具有統計誤差。 被測X射線的計數值（N）的分布屬于隨機事件，其標準偏差由 N求出。 N就叫統計誤差。時間越長，則相對偏差就越小，即精度就越高。 

技術參數

產品名稱：X射線熒光光譜分析儀

型號：EDX3600K型

X射線源：50KV、1mA

樣品腔體積：Φ40.5mm×39.5mm

分析方法：X射線熒光光譜法

測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（U）]之間的元素均可測量，根據客戶需求配置相應軟件

檢測元素：同時分析元素達三十多種，可根據客戶需要增加元素

含量范圍：ppm～99.99%

檢測時間：10秒以上，全程電腦操作

檢測對象：標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末

探測器及分辨率：超大超薄的SDD探測器，分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器至125eV

激發源：銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇

攝像頭：高清攝像頭，測試過程可觀測

測井環境：超真空系統，10秒可抽到10Pa以下，大氣、氦氣均可以

準直器和濾光片：四組準直器（7、5、3、1mm），6種濾光片組合自動切換

自旋裝置：可調速的自旋裝置

檢出限：對樣品中的大多數元素來說，檢出限達5～500ppm

真空系統：超真空系統，10秒可到10Pa

數據傳輸：數字多道技術，快速分析，高計數率，測試更加準確

測試臺：360°電動旋轉式

操作環境濕度：≤90%

操作環境溫度：15℃～30℃

保護系統：樣品腔為電動控制，上蓋打開時測試已完成

樣品放置：*的樣品杯設計，自帶壓環，可防止樣品晃動，測試更穩定

數字多道技術：計數率>50kcps，有效計數率高至500kcps

外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG