脈沖激光外延制備鍍膜系統 參考價：面議
脈沖激光外延制備鍍膜系統脈沖激光外延制備系統憑借著優異的性能, PVD公司生產的脈沖激光沉積分子束外延系統在國內外擁有較多用戶，為眾多老師開啟薄膜外延制備的新篇...
脈沖激光沉積鍍膜設備 參考價：面議
脈沖激光沉積鍍膜設備激光在真空腔內照射到成膜靶上，靶被照射后吸收高密度能量而形成的plume狀等離子體狀態，然后被堆積到設在對面的基板上而成膜。PLD方法可以獲...
狹縫擠出式涂布鍍膜機 參考價：面議
狹縫擠出式涂布鍍膜機粘度范圍：1-20000cps，應用襯底：玻璃， PET聚酯， 紙張，幅寬：90mm, 120mm, 300mm。
低溫等離子體源 參考價：面議
低溫等離子體源通過外部開關信號發射，直接放電，低輸入電壓、高輸出電壓，基于壓電變壓器直接放電，同時在元件的輸出端直接產生冷等離子，等離子通過電離空氣或氣體來形成...
快速動力學停流裝置-分子生物學 參考價：面議
快速動力學停流裝置-分子生物學配合進行快速動力學瞬間實時記錄，或離線分析，為廣大的快速動力學研究學者提供了強有力的工具。在消耗較少的樣本和較少的時間的同時，為您...
表面光電壓譜--半導體表征 參考價：面議
表面光電壓譜--半導體表征表面光電壓譜進行專業研究時，SPV010或者SPV020表面光電壓譜系統作為開爾文探針系統的升級配件，匹配共同工作。150瓦直流可控光...
英國KP開爾文探針掃描-半導體表征 參考價：面議
英國KP開爾文探針掃描-半導體表征英國KP開爾文探針掃描是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導體材料的功函數（Work Function）或半導體、絕緣表面的...
球磨測厚儀-測試設備 參考價：面議
球磨測厚儀-測試設備控制單元自帶可編程的微處理器:速度，時間，球型，X，Y直徑，自帶LED光源，目鏡小刻度為0.02mm，自動厚度校準，工作時間范圍：1-30m...
涂層附著力檢測儀-測試設備 參考價：面議
涂層附著力檢測儀-測試設備1.快速簡易：壓痕并觀察壓痕效果2.高性價比：寶石探針消耗低（劃痕儀的10倍使用壽命）
摩擦學測試設備 參考價：面議
摩擦學測試設備目的是滿足摩擦學的需要。為了增加機械部件的性能和可靠性，公司和大學研究越來越多的涂層和基底材料的摩擦參數和磨耗阻力。針對客戶的需求，我們開發了多種...
輪廓儀-測試設備 參考價：面議
輪廓儀-測試設備為了選擇佳涂層或基底材料，客戶有必要不僅僅檢測摩擦系數，也需要檢測磨損速率。磨損速率測量可以提供可靠的結果，這可以允許客戶來決定手否樣品能夠達到...
界面力學分析儀-材料表征 參考價：面議
界面力學分析儀-材料表征界面力學分析儀可以用來直接測量表面（諸如：無機物，金屬，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）間靜態力和動態力，并在分子級領域內研究界面...
飛行時間二次離子質譜-材料表征 參考價：面議
飛行時間二次離子質譜-材料表征飛行時間二次離子質譜是一種非常靈敏的表面分析技術。可以廣泛應用于物理，化學，微電子，生物，制藥，空間分析等工業和研究方面。TOF-...
全自動貼片機-材料設備 參考價：面議
全自動貼片機-材料設備標準光學放大是持續可調的。這通過可調放大倍率達到高精度的放置器件。該款是一款堅固并且可靠的機械設計，操作簡易，兼容性高的產品。
劃片機-材料設備 參考價：面議
劃片機-材料設備沿著中心線升高以便分離。薄膜層幫助元件阻攔污染或重壓。全部參數都由控制鍵盤設定。這是一款穩定，抗振動，和易操作的設備。
大氣環境光電子發射光譜-材料表征 參考價：面議
大氣環境光電子發射光譜-材料表征1、大氣環境下使用2、功能：光電子發射光譜+開爾文探針3、測試能級：費米能級，導帶底能量，價帶頂能量，HOMO-LUMO，禁帶寬...
薄膜電阻及厚度測試設備 參考價：面議
薄膜電阻及厚度測試設備可按照需求配置單個或多個針對不同樣品的高敏感探頭進行測量，并通過顯示模塊輸出。檢測終輸出結果可顯示為薄膜電阻（Ohms/sq），薄膜電導（...
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統-材料表征 參考價：面議
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統-材料表征俄歇電子能譜及低能電子衍射分析系統電子槍：型號 ：帶可調焦距和束斑直徑的雙靜電透鏡束流電壓：0-3KV束流電流：大50u...
表面光電壓譜系統-材料表征 參考價：面議
表面光電壓譜系統-材料表征表面光電壓譜系統150瓦直流可控光強的石英鹵素燈可以達到開路電位來評估卷對卷硅太陽能電池的質量，全數字化控制所有參數，包括光照強度和波...
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征 參考價：面議
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子...
超高真空開爾文探針-材料表征 參考價：面議
超高真空開爾文探針-材料表征開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，
氣氛可控開爾文探針-材料表征 參考價：面議
氣氛可控開爾文探針-材料表征氣氛可控開爾文探針RHC020 氣氛控制掃描開爾文探針是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至10...
深能級瞬態譜儀-半導體表征 參考價：面議
深能級瞬態譜儀-半導體表征半導體領域研究和檢測半導體雜質、缺陷深能級、界面態等的重要技術手段。根據半導體P-N 結、金－半接觸結構肖特基結的瞬態電容（△C～t）...
單點開爾文探針-材料表征 參考價：面議
單點開爾文探針-材料表征開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界高分辨率的測試系統。
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