霍爾效應測量系統是一種用于材料科學、信息科學與系統科學領域的儀器，主要用于研究光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。
測試流程：
1、接通電源，打開電腦。
2、調整儀器，放置準備好的樣品。
3、抽真空。
4、設置參數。
5、加液氮至所需溫度條件。
6、測量，讀取結果，保存。
7、斷開電源，關閉電腦。
8、待樣品冷卻至常溫在大氣壓下取樣。
霍爾效應測量系統 L79/HCS可用于半導體組件性能表征，包括:遷移率，電阻率，載流子濃度和霍爾常數。
特點：
• 載流子濃度
• 電阻率
• 遷移率
• 電導率
• α (水平電阻值/垂直電阻值)
• 霍爾常數
• 磁致電阻
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