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　　接觸熱阻測試儀是先進的熱測試儀，用于測試IC、LED、散熱器、熱管等電子器件的熱特性。該儀器基于先進的測試方法，通過改變電子器件的輸入功率，使得器件產生溫度變化，在變化過程中，儀器測試出芯片的瞬態溫度響應曲線，僅在幾分鐘之內即可分析得到關于該電子器件的全面的熱特性。
 

　　接觸熱阻測試儀的應用范圍：
 

　　1、各種三極管、二極管等半導體分立器件，包括：常見的半導體閘流管、雙極型晶體管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。
 

　　2、各種復雜的IC以及MCM、SIP、SoC等新型結構。
 

　　3、各種復雜的散熱模組的熱特性測試，如熱管、風扇等。
 

　　4、半導體器件結溫測量。
 

　　5、半導體器件穩態熱阻及瞬態熱阻抗測量。
 

　　6、半導體器件封裝內部結構分析，包括器件封裝內部每層結構(芯片+焊接層+熱沉等)的熱阻和熱容參數。
 

　　7、半導體器件老化試驗分析和封裝缺陷診斷，幫助用戶準確定位封裝內部的缺陷結構。
 

　　8、材料熱特性測量(導熱系數和比熱容)。
 

　　9、接觸熱阻測量，包括導熱膠、新型熱接觸材料的導熱性能測試。
 

　　隨著電池、電子封裝等相關設備的普及，功率的增加，廢熱管理，如何降低熱損變得越來越重要。如何管理好這些復雜的熱系統并不容易，需要對界面材料有根本的認識。