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GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn)
閱讀：1735 發(fā)布時(shí)間：2019-4-4| GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn) | |
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GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品低溫試驗(yàn) GB/T 2423.1-2008/IEC60068-2-1:2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn) 本標(biāo)準(zhǔn)所涉及的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱里兩類試驗(yàn)樣品.本標(biāo)準(zhǔn)于用來(lái)考核確定電工,電子產(chǎn)品(包括元件,設(shè)備及其他產(chǎn)品)在低溫環(huán)境條件下貯存和使用的環(huán)境適應(yīng)性。 低溫試驗(yàn)不能用來(lái)考核試驗(yàn)樣品對(duì)溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力,在這種情況下,應(yīng)選擇溫度變化試驗(yàn)方法. |
