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聊聊TCT溫度循環實驗的條件
閱讀：2929 發布時間：2023-6-29聊聊TCT溫度循環實驗的條件
有很多芯片行業的客戶說要做溫度循環實驗（Temperature cycling test:TCT）測試，不知道具體的條件是什么，下面勤卓小編給大家分享一下，希望能夠對大家有所幫助。
主要的測試目的：用于評估芯片封裝對于高低溫快速轉換之耐受度。進行該測試時，將芯片按照預定的循環次數反復暴露于此條件下。
測試條件：條件B -55~125℃，700cycles
條件G -40~125℃，850cycles
條件C -65~125℃，500cycles
條件K 0~125℃，1500cycles
條件J 0~100℃，2300cycles
樣品數 : 25ea/lot , 3lots
參考規范：MIL-STD-883 Method 1010.7、JESD22-A104
勤卓環試于2010年成立以來，專注發展可靠性測試設備，秉承“一款產品，就是一個行業品牌"的發展理念，勤卓研發生產的環境試驗設備，一直以性能穩定，參數精密，而獲得市場的廣泛認可，勤卓品牌試驗設備先后進駐中科院、清華大學、沈飛集團、中船重工、比亞迪、邁瑞醫療、比克電池等各大企事業單位，受到市場的廣泛好評和尊敬。
