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詳細介紹
低溫恒溫試驗箱
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除了可仿真產品在一般氣候環境溫濕組合條件下（高低溫操作&儲存、溫度循環、高溫高濕、結露試驗）..等，去檢測產品本身的適應能力與特性是否改變，以及針對產品在（低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等）環境下是否會發生龜裂、破損，另外在低濕環境中的空氣靜電量是一般環境的30倍以上，據統計，半導體破壞率：59%是由靜電所引起的。 |
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| ●人機對話式觸摸屏輸入系統，操作簡單易學，功能強大，并可于LCD畫面上了解程式設定之曲線及監測過程； ●可設定程式120組，1200段，循環次數可達999次，每段時間大設定99小時59分； ●具有RS232通信接口，可通過PC隨意控制和監視，還可選配RS485接口，SB曲線記錄和數據儲存裝置,使用便捷； ●具有9組PID參數調節，以達到穩定、精準之控制； ●具有程式修正、清除、預約、啟動、停電、記憶、按鍵鎖定等功能； ●具有多種報警功能，故障發生同時，可通過熒幕故障顯示，消除故障； ●*送風循環設計，溫濕度分布均勻性佳； ●具有自動防霜裝置的真空雙重玻璃，可清晰觀察試驗箱內的試品； ●前置式自動進水裝置，方便增加加濕水。 |
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| 執行標準.中國標準分為強制性國標（GB）和推薦性國標（GB/T） 中國標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術條件 中國標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術條件 中國標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件 滿足標準 電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩態濕熱 電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷 電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱 美國標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度 美國標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫 美國標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫 美國標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗 美國標準,MIL-STD810D方法502.2 美國標準,MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業標準,S C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態 日本工業標準,S C60068-2-2-1995 試驗B:干熱 日本工業標準,S C60068-2-1-1995 試驗A:低溫 美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗 美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗 美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗 中國標準,GB/T 2423.1-2001 低溫 中國標準,GB/T 2423.2-2001 高溫 中國標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法 中國標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環試驗 中國標準,GB/T2423.4-93方法 中國環境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗 |
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