在現(xiàn)代電子測試中,老化測試箱被廣泛應(yīng)用,溫度控制對(duì)電子設(shè)備的測試具有決定性影響,測試箱溫度控制系統(tǒng)具有大滯后、非線性、時(shí)變等特性。 [1]
在現(xiàn)代電子測試中,
老化測試箱被廣泛應(yīng)用,溫度控制對(duì)電子設(shè)備的測試具有決定性影響,測試箱溫度控制系統(tǒng)具有大滯后、非線性、時(shí)變等特性。
[1] 老化箱的溫度控制系統(tǒng)是以微處理器為核心,采用PID控制,使得溫度可以控制在測試范圍當(dāng)中,加熱絲的加熱功率為2000W,溫控箱的溫度范圍為0~150℃,實(shí)用的電壓為市電交流220V。
整個(gè)系統(tǒng)由4個(gè)模塊組成,如圖1所示,采用MUC控制,其內(nèi)部包括A/D和D/A轉(zhuǎn)換模塊、繼電器和輔助繼電器驅(qū)動(dòng)電路。老化測試箱內(nèi)部有用于溫度檢測的PT100,以及用于加熱的加熱絲。
由于老化箱一般可以看作帶有純滯后環(huán)節(jié)的一階對(duì)象,其傳遞函數(shù)可以用以下公式表示:
G(S)=KTS+1e-τS;
通過測量系統(tǒng)溫度的飛升曲線,可以得到老化箱的傳遞函數(shù)的參數(shù):放大系數(shù)K=120,時(shí)間常數(shù)T=1000,滯后時(shí)間τ=60s。
[1] 由于PID控制算法具備結(jié)構(gòu)簡單、可靠性高等優(yōu)點(diǎn),因此在工業(yè)控制領(lǐng)域中得到廣泛應(yīng)用。尤其當(dāng)微控制器應(yīng)用在控制領(lǐng)域后,PID控制算法使用起來更加方便,實(shí)現(xiàn)了軟件的數(shù)字PID控制算法。數(shù)字PID控制器比傳統(tǒng)模擬PID控制器的控制性能更好,廣泛應(yīng)用在工業(yè)生產(chǎn)過程中。它是將比例、積分、微分控制并聯(lián)在一起。假定在系統(tǒng)給定與反饋出現(xiàn)偏差:
e(t)= r(t)- y(t) (3)
可以用如下表達(dá)式表示:
表達(dá)式 (4)
其中,u(t) 為控制器的輸出,Kp為比例系數(shù),Ti為積分時(shí)間系數(shù),Td為微分時(shí)間系數(shù)由式(3) 可以得到PID控制器的傳遞函數(shù)為:
表達(dá)式 由式(4) 可知:
(1) 比例環(huán)節(jié): 其主要作用是放大誤差作用,當(dāng)給定和輸出出現(xiàn)偏差,控制器使偏差放大,比例系數(shù)越大,控制過程的過渡越快,但是過大的比例系數(shù)也會(huì)引起過高的超調(diào)量。
(2) 積分環(huán)節(jié): 為了消除誤差,控制器必須引入積分環(huán)節(jié),積分環(huán)節(jié)的引入,隨著時(shí)間的增加,積分項(xiàng)會(huì)增大,它的輸出增大將進(jìn)一步減小穩(wěn)態(tài)誤差。
(3) 微分環(huán)節(jié): 由于微分具備對(duì)誤差提前報(bào)告的作用,適當(dāng)?shù)奈⒎窒禂?shù)可以微分加快系統(tǒng)響應(yīng)過程