——天瑞儀器攜質譜系列產品盛裝亮相BCEIA
“第十六屆北京分析測試學術報告會暨展覽會"（簡稱：BCEIA）于2015年10月27日在北京國家會議中心隆重開幕，本次大會由中華人民共和國科學技術部批準，中國分析測試協會主辦。兩年一度的BCEIA，是國內分析測試行業內度及專業度高的盛會。
大會現場
開展天天瑞儀器就受到了行業、學者、同行及現場客戶的高度關注。天瑞儀器董事長劉召貴博士、總應剛率公司團隊親臨現場，與來訪者進行交流互動。
天瑞儀器展臺現場
董事長劉博士與來訪客戶現場交流
總應剛與來訪進行現場交流
天瑞儀器質譜事業部總周立博士與客戶現場交流
天瑞儀器光譜事業部總韋大綸與客戶現場交流
本次展品亮點多多，天瑞儀器展示了近兩年公司在新產品研發、產品升級、行業應用、解決方案制定等方面取得的豐碩成果。
天瑞質譜家族的新成員基質輔助激光解析-飛行時間質譜儀MALDI-TOF亮相展會，就成為了展臺現場的關注焦點，作為中國具有自主產權的商品化基質輔助激光解析/離子源-飛行時間質譜儀，Micro TyperMS的誕生開啟了國產生物質譜的新時代；歷經3年市場磨礪，2015年推出的ICP-MS 2000E，擁有的碰撞反應池功能、新型離子源設計、的自動進樣器、軟件集成應用分析包，極大的提升了儀器整體性能指標和性價比；備受業界廣泛認可的氣相色譜質譜聯用儀GC-MS 6800，在食品、紡織、RoHS、環境等多個領域的定制方案，更貼心的為客戶提供專業的一站式解決方案；國產化的GC-TOFMS系列iTOF-1G、iTOF-2G，具有高分辨率、高靈敏度和高采集速度的性能，實現了飛行時間質譜與快速氣相色譜的對接；性能、配備自動進樣器的液相色譜質譜聯用儀LC-MS1000；為糧食重金屬檢測量身打造的EDX 3200S plus C智能型食品重金屬快速檢測儀、一代手持式X熒光光譜儀探索者EXPLORER，創新一體式設計的EHM-X200大氣重金屬分析儀等明星產品也都悉數登場。
天瑞儀器承擔的 “國家重大科學儀器設備開發專項"的WDX 4000順序式波長色散X熒光光譜儀也受邀來到“國家重大科學儀器設備開發專項階段成果展"展示區參加展示。
天瑞工程師給客戶介紹WDX4000
27日晚間，由江蘇天瑞儀器股份有限公司和廈門質譜儀器儀表有限公司聯合研發生產的基質輔助激光解析-飛行時間質譜儀MALDI-TOF喜獲2015BCEIA金獎。
飛行時間質譜儀MALDI-TOF喜獲2015BCEIA金獎
廈門質譜何堅教授給客戶介紹飛行時間質譜儀MALDI-TOF
天瑞工程師指導客戶現場操作EXPLORER
天瑞工作人員為客戶介紹產品
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